Сортировать по:
| Выпуск | Название | |
| № 11 (2010) | Нанометрология и особенности метрологического обеспечения измерений параметров шероховатости и рельефа наноструктурированных поверхностей | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. Г. Лысенко, В. В. Соловьев, П. Н. Лускинович, С. Ю. Золотаревский, К. Л. Губский | ||
| "... наноструктурированных поверхностей. На основе анализа существующих разработок в области сканирующей зондовой микроскопии ..." | ||
| № 10 (2018) | Программно-аппаратные средства измерений перемещений образца в зондовом микроскопе | Аннотация похожие документы |
| П. В. Гуляев, Е. Ю. Шелковников, А. В. Тюриков | ||
| "... Рассмотрены особенности измерения перемещения образца системой позиционирования зондового ..." | ||
| № 11 (2010) | Прослеживаемость результатов измерений в нанометровом диапазоне к единицам Международной системы единиц физических величин | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| С. С. Голубев, С. Н. Голубев | ||
| "... микроскопу; два метода калибровки сканирующих зондовых микроскопов - прямой и с использованием фурье-образа ..." | ||
| № 8 (2014) | Измерение локальной термоЭДС металлов методом сканирующей туннельной спектроскопии | Аннотация похожие документы |
| В. И. Троян, П. В. Борисюк, О. С. Васильев, А. В. Красавин, В. В. Флоренцев | ||
| № 7 (2015) | Интерпретация данных сканирующей туннельной микроскопии | Аннотация похожие документы |
| А. М. Мандель, А. И. Лоскутов, В. Б. Ошурко, Г. И. Соломахо, С. В. Веселко | ||
| "... промежутка при измерениях профиля поверхности в сканирующем туннельном микроскопе. Основное внимание ..." | ||
| № 2 (2013) | Особенности примененияупорядоченных пленок молекул фуллеренов для калибровки сканирующих туннельных микроскоповпри измерении геометрических параметров объектов | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. Ю. Кузин, П. А. Тодуа, В. И. Панов, А. И. Орешкин | ||
| "... эталонных объектов для калибровки сканирующих туннельных микроскопов. ..." | ||
| № 9 (2012) | Методика калибровки сканирующего оптического микроскопа ближнего поля при измерении геометрических параметров объектов в режиме квазитрения | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. Ю. Кузин, П. А. Тодуа, В. И. Панов, А. А. Ежов, Д. А. Музыченко | ||
| "... ) высокоориентированного пиролитического графита в качестве эталонных объектов для калибровки сканирующего ближнепольного ..." | ||
| № 10 (2013) | Определение метрологических характеристик сканирующего ближнепольного оптического микроскопа при исследовании биологических объектов | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Ф. В. Булыгин, О. Е. Драчева, Н. П. Кутузов, В. Л. Лясковский, Г. В. Максимов, Ю. А. Николаев | ||
| "... сканирующего ближнепольного оптического микроскопа непосредственно в процессе измерений параметров ..." | ||
| № 9 (2015) | Измерения толщины оксидной пленки на поверхности кремния электронно-зондовым методом | Аннотация похожие документы |
| В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, М. А. Степович, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
| "... Предложен электронно-зондовый способ измерений толщины оксидной пленки на поверхности кремния. Дана ..." | ||
| № 7 (2016) | Измерение параметров полупроводниковых приборов на пластине | Аннотация похожие документы |
| А. А. Савин, В. Г. Губа, О. Н. Быкова | ||
| "... анализатора цепей и зондовой станции в миллиметровом диапазоне частот. Высокая точность измерений достигнута ..." | ||
| № 5 (2020) | Достаточное условие надёжности измерений рельефа поверхности образца методом атомно-силовой микроскопии | Аннотация похожие документы |
| А. С. Кравчук, А. И. Кравчук | ||
| "... атомно-силовых микроскопов необходимо в несколько раз повысить точность изготовления зондов, а также ..." | ||
| № 8 (2016) | Измерение неоднородности толщины наноплёнок электронно-зондовым методом | Аннотация похожие документы |
| С. А. Дарзнек, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, М. А. Степович, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
| "... Предложен электронно-зондовый способ измерений неоднородности толщины наноплёнок, основанный на ..." | ||
| № 10 (2016) | Тепловые эффекты при низковольтном электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе с нанометровой локальностью | Аннотация похожие документы |
| А. Ю. Кузин, М. А. Степович, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
| № 11 (2016) | Изменение химического состава анализируемого объекта при низковольтном электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе | Аннотация похожие документы |
| А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
| "... низковольтном электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе. Изменения обусловлены термическим ..." | ||
| № 3 (2015) | Метод оценки составляющих погрешности измерения линейных размеров объектов в автоматизированных системах компьютерной микроскопии | Аннотация похожие документы |
| А. Н. Проничев | ||
| "... автоматизированных системах компьютерной микроскопии с применением объект-микрометра и автоматизированной обработки ..." | ||
| № 8 (2012) | Выбор оптимальных параметров электронного зонда растрового электронного микроскопапри измерении геометрических параметров объектов методом дефокусировки зонда | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. В. Альзоба, А. Ю. Кузин, Ю. В. Ларионов, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
| "... дефокусировки электронного зонда растрового электронного микроскопа, обусловленной зависимостью результата ..." | ||
| № 3 (2015) | Трехмерная реконструкция поверхностей рельефных структур по стереоизображениям, полученным в растровом электронном микроскопе | Аннотация похожие документы |
| В. П. Гавриленко, Д. А. Карабанов, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. А. Михуткин, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов, Т. Н. Баймухаметов, А. Л. Васильев | ||
| "... микроскопе, восстановлен профиль поверхности двух образцов из монокристаллического кремния, содержащих ..." | ||
| № 9 (2013) | Сравнение латеральных разрешений оптического и интерференционного микроскопов | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Г. Г. Левин, Н. Н. Моисеев, В. Л. Минаев, Я. А. Илюшин | ||
| "... Проведено сравнение латеральных разрешений оптического и интерференционного микроскопов ..." | ||
| № 5 (2013) | Способ оценки стабильности масштабного коэффициента просвечивающего электронного микроскопа | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. В. Заблоцкий, А. С. Авилов, Д. С. Бодунов, А. А. Кузин, А. Ю. Кузин, А. А. Кузьмин, П. А. Тодуа | ||
| "... микроскопа JEM-2100 при помощи тест-объекта, выполненного в виде тонкого среза кристаллической рельефной ..." | ||
| № 5 (2013) | О латеральном разрешении интерференционного микроскопа | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Г. Г. Левин, Г. Н. Вишняков, Н. Н. Моисеев, В. Л. Минаев | ||
| "... интерференционного микроскопа, созданного на основе микроинтерферометра Линника МИИ-4М. Проведено сравнение ..." | ||
| № 10 (2012) | Стандартный образец для калибровки просвечивающих электронных микроскопов | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Д. С. Бодунов, В. П. Гавриленко, А. В. Заблоцкий, А. А. Кузин, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
| "... монокристаллического кремния ГСО 10030–2011, предназначенного для калибровки просвечивающих электронных микроскопов в ..." | ||
| № 7 (2015) | Лазерная модуляционная интерференционная микроскопия как средство контроля формы и шероховатости оптических поверхностей | Аннотация похожие документы |
| П. С. Игнатьев, Л. С. Кольнер, К. В. Индукаев, В. И. Телешевский | ||
| "... Рассмотрено применение технологии модуляционной интерференционной микроскопии в качестве ..." | ||
| № 10 (2021) | Исследование текстурных признаков для задач распознавания клеток костного мозга в информационно-измерительных системах онкогематологии | Аннотация похожие документы |
| В. Г. Никитаев, А. Н. Проничев, Н. Н. Тупицын, А. Д. Палладина, В. В. Дмитриева, А. В. Козырева, М. С. Майоров, М. А. Соломатин, Е. А. Дружинина, Е. В. Поляков, Б. Б. Батуев | ||
| № 10 (2021) | Цветовая мера для калибровки систем цифровой микроскопии | Аннотация похожие документы |
| Д. С. Махов, Г. Р. Сагателян, А. В. Самородов | ||
| "... использованием систем цифровой микроскопии. Актуальность обеспечения воспроизводимости цвета на изображениях ..." | ||
| № 3 (2017) | Измерение высоты элементов нанорельефа поверхности методом трёхмерной реконструкции в растровом электронном микроскопе | Аннотация похожие документы |
| С. А. Дарзнек, Д. А. Карабанов, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
| "... методами трёхмерной реконструкции с помощью растрового электронного микроскопа и профилометрии. Для ..." | ||
| № 9 (2012) | Измерение параметров шероховатости с использованием интерференционного микроскопа | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Н. Н. Моисеев, И. Ю. Цельмина | ||
| "... диапазоне с помощью интерференционного микроскопа с автоматической расшифровкой интерферограмм по методу ..." | ||
| № 11 (2015) | Создание калибровочных образцов меры с элементами рельефа менее 100 нм | Аннотация похожие документы |
| Ю. М. Золотаревский, В. Л. Лясковский, Ю. Р. Ефименков, А. А. Самойленко | ||
| "... нм для калибровки оптических, ближнепольных и электронных микроскопов на основе металлизированого ..." | ||
| № 6 (2017) | Калибровка матричных фотоприёмников и прецизионное позиционирование объектов по растровым изображениям | Аннотация похожие документы |
| Г. Г. Левин, В. Л. Минаев, Я. А. Илюшин, В. Г. Ошлаков | ||
| "... микроскопе. Оценена степень влияния фазовых шумов восстановления когерентной структуры поля. Исследовано ..." | ||
| № 11 (2017) | Измерение профиля поверхности моноатомной многослойной наноструктуры кремния интерференционным методом | Аннотация похожие документы |
| В. Л. Минаев, Г. Г. Левин, А. В. Латышев, Д. В. Щеглов | ||
| "... помощью интерференционного метода. Измерения проведены сканирующим интерференционным микроскопом белого ..." | ||
| № 2 (2015) | Шум типа 1/ Fα в QUOTE QUOTE фоточувствительных элементах на основе сульфида свинца | Аннотация похожие документы |
| Б. Н. Мирошников, И. Н. Мирошникова, Х. С. Мохамед, А. И. Попов | ||
| "... электронной микроскопии фоточувствительных структур на основе сульфида свинца с точки зрения выявления ..." | ||
| № 3 (2016) | Анализ факторов, влияющих на погрешность трёхмерной реконструкции поверхности объектов с субмикрометровым рельефом, по полученным в растровом электронном микроскопе стереоизображениям | Аннотация похожие документы |
| А. Ю. Кузин, А. Л. Васильев, В. Б. Митюхляев, А. А. Михуткин, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
| № 1 (2014) | Влияние фокусировки на латеральное разрешение интерференционного микроскопа | Аннотация похожие документы |
| Г. Г. Левин, Н. Н. Моисеев, Я. А. Илюшин, В. Л. Минаев | ||
| "... Проанализирована зависимость латерального разрешения интерференционного микроскопа от расстояния ..." | ||
| № 8 (2014) | Двухканальный измеритель параметров сальтирующих песчинок | Аннотация похожие документы |
| А. А. Титов, С. Ф. Мирсаитов | ||
| № 3 (2013) | Искажение профиля рельефных элементов на поверхности монокристаллического кремния в результате их контаминации в низковольтном растровом электронном микроскопе | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов, В. А. Шаронов | ||
| "... Представлены результаты исследований влияния контаминации в раствором электронном микроскопе S-4800 ..." | ||
| № 5 (2014) | Модель описания лейкоцитов периферической крови на основе оптических особенностей структуры ядер | Аннотация похожие документы |
| В. Г. Никитаев, О. В. Нагорнов, А. Н. Проничев, Е. В. Поляков, В. Ю. Сельчук, К. С. Чистов, В. Н. Блиндарь, В. В. Дмитриева, В. В. Гордеев | ||
| № 11 (2015) | Оценка уровня шумов фазовых изображений, получаемых при помощи сдвигового интерференционного микроскопа | Аннотация похожие документы |
| М. И. Латушко | ||
| "... на сдвиговом интерференционном микроскопе. Приведены экспериментальные результаты при работе ..." | ||
| № 11 (2015) | Сдвиговый интерференционный микроскоп с расшифровкой дифференциальных фазовых изображений живых клеток методом фазовых шагов | Аннотация похожие документы |
| М. И. Латушко, Г. Н. Вишняков, Г. Г. Левин | ||
| "... Предложена схема низкокогерентного интерференционного микроскопа, построенного на базе сдвигового ..." | ||
| № 10 (2014) | Исследование эффективности применения вейвлет-анализа в информационно-измерительных системах диагностики острых лейкозов | Аннотация похожие документы |
| В. Г. Никитаев, О. В. Нагорнов, А. Н. Проничев, Е. В. Поляков, В. Ю. Сельчук, К. С. Чистов, В. Н. Блиндарь, В. В. Дмитриева, С. М. Зайцев, В. В. Гордеев | ||
| № 12 (2014) | Пространственно-временные характеристики высокотемпературных сверхпроводников и холловский микроскоп для их исследования | Аннотация похожие документы |
| Х. Р. Ростами | ||
| "... микроскоп чувствительностью 2,5×10-7 Тл/Гц1/2 на основе двух преобразователей Холла. ..." | ||
| № 4 (2013) | Стандартные образцы наночастиц Au и ZnO для калибровки малоугловых рентгеновских дифрактометров | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| М. А. Запорожец, В. В. Волков, С. Н. Сульянов, Е. Г. Рустамова, С. П. Губин, В. Б. Митюхляев, А. Ю. Кузин, П. А. Тодуа, А. С. Авилов | ||
| "... просвечивающего электронного микроскопа. Подтверждены средние значения размерных параметров наночастиц и ..." | ||
| № 12 (2016) | Калибровка растровых электронных микроскопов в широком диапазоне увеличений | Аннотация похожие документы |
| Р. В. Киртаев, А. Ю. Кузин, В. Г. Маслов, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
| "... Предложен новый метод калибровки растровых электронных микроскопов в диапазоне увеличений 10-50000 ..." | ||
| № 12 (2016) | Высокочувствительный магнитометр для исследования эффекта захвата магнитного потока в высокотемпературных сверхпроводниках | Аннотация похожие документы |
| Х. Р. Ростами | ||
| 1 - 42 из 42 результатов | ||
Советы по поиску:
- Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
- Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
- По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
- Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
- Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
- Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
- Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
- Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)
