Методика калибровки сканирующего оптического микроскопа ближнего поля при измерении геометрических параметров объектов в режиме квазитрения
Аннотация
Об авторах
А. Ю. КузинРоссия
П. А. Тодуа
Россия
В. И. Панов
Россия
А. А. Ежов
Россия
Д. А. Музыченко
Россия
Список литературы
1. Ежов А.А. и др.Исследование локализации электромагнитного поля на периодических структурах и дефектах методом оптической микроскопии ближнего поля // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2000. №11.С. 59–63.
2. ЕжовА.А. и др. Применение сканирующей оптической микроскопии ближнего поля для изучения субмикро- и нанообъектов, а также распределения электромагнитного поля // Наукоемкие технологии.2005.Т.6. №1.С. 34–40.
3. Lewis A.е. а.Design and imaging concepts in NSOM //Ultramicroscopy.1995.V. 61.Р. 215–220.
4. ГОСТ Р ИСО 14644-1–2002. Чистые помещения и связанные с ними контролируемые среды. Ч. 1. Классификация чистоты воздуха.
Рецензия
Для цитирования:
Кузин А.Ю., Тодуа П.А., Панов В.И., Ежов А.А., Музыченко Д.А. Методика калибровки сканирующего оптического микроскопа ближнего поля при измерении геометрических параметров объектов в режиме квазитрения. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2012;(9):15- 18.