Preview

Измерительная техника

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Кузин А.Ю., Тодуа П.А., Панов В.И., Ежов А.А., Музыченко Д.А. Методика калибровки сканирующего оптического микроскопа ближнего поля при измерении геометрических параметров объектов в режиме квазитрения. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2012;(9):15- 18.



Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 0368-1025 (Print)
ISSN 2949-5237 (Online)