Для цитирования:
Кузин А.Ю., Тодуа П.А., Панов В.И., Ежов А.А., Музыченко Д.А. Методика калибровки сканирующего оптического микроскопа ближнего поля при измерении геометрических параметров объектов в режиме квазитрения. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2012;(9):15- 18.