Preview

Измерительная техника

Расширенный поиск
Доступ открыт Открытый доступ  Доступ закрыт Только для подписчиков

Калибровка матричных фотоприёмников и прецизионное позиционирование объектов по растровым изображениям

Полный текст:

Аннотация

Рассмотрена задача определения малого перемещения объекта по серии изображений в интерференционном микроскопе. Оценена степень влияния фазовых шумов восстановления когерентной структуры поля. Исследовано влияние погрешностей калибровки индивидуальных пикселов матричного фотоприёмника растрового изображения.

Об авторах

Г. Г. Левин
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Россия


В. Л. Минаев
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Россия


Я. А. Илюшин
Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН
Россия


В. Г. Ошлаков
Институт оптики атмосферы им. В. Е. Зуева СО РАН
Россия


Список литературы

1. Sandoz P., Friedt J.-M., Carry M. In-plane rigid-body vibration mode characterization with a nanometer resolution by stroboscopic imaging of a microstructured pattern // Rev. Scient. Instrum. 2007. V. 78. P. 023706.

2. Ошлаков В. Г., Цвык Р. Ш., Солдатов А. Н., Илюшин Я. А. Принципы построения лазерных лучевых инструментальных систем ориентирования. Ч. 1 // Известия вузов. Физика. 2013. Т. 56. № 1012. С. 90-99.

3. Ошлаков В. Г., Илюшин Я. А. Адаптивная оптимизация поляризационных характеристик активных локаторов // Радиоэлектроника, наносистемы, информационные технологии. 2013. Т. 5. № 2. С. 3-14.

4. Preusker F., Oberst J., Head J. W., Watters T. R., Robinson M. S., Zuber M. T., Solomon S. C. Stereo topographic models of mercury after three MESSENGER flybys // Planetary and Space Sci. 2011. V. 59. Nо.15. P. 1910-1917.

5. Tian Q., Huhns M. N. Algorithms for Subpixel Registration. // Computer Vision // Graphics and Image Proc. 1986. V. 35. P.220-233.

6. Alliney S. Digital analysis of rotated images. // IEEE Trans. Pattern Analysis Machine Intell. // 1993. V. 15. P. 499-504.

7. Abdou I. E. Practical approiach to the registration of multiple video images. // Proc. SPIE. 1999. V. 2563. P. 371-382.

8. Zheng Q., Chelappa R. A computational vision approach to image registration. // IEEE Trans. Image Processing. 1993. V. 2. P. 311-326.

9. Wong J. W., Hall E. L. Scene matching with invariant moments. // Comput. Graph. Image Proc. // 1978. V. 8. P. 16-24.

10. Kim S. P., Su W. Y. Subpixel accuracy image registration by spectrum cancellation // Proc. ICASSP'93. 1993. V. V. P. 153-156.

11. Левин Г. Г., Ломакин А. Г., Илюшин Я. А., Куницын В. Е. Применение техники апертурного синтеза в оптической интерференционной микроскопии // Оптика и Спектроскопия. 2009. Т. 107. № 2. С. 338-345.

12. Левин Г. Г., Илюшин Я. А., Минаев В. Л., Моисеев Н. Н. Определение наноперемещений объекта по оптическому фазовому изображению. // Измерительная техника. 2010. № 7. С. 38-42.

13. Levin G., Minaev V., Moiseev N., Ilyushin Ya. Definition of object near nanometer shifting by 2D optical path difference (2010) // Optical Information Technology, ACIT-OIT 2010: Proc. of the IASTED Intern. Conf. on Automation, Control and Information Technology, 2010. P. 282-286.

14. Sandoz P., Bonnans V., Gharbi T. High-Accuracy Position and Orientation Measurement of Extended Two-Dimensional Surfaces by a Phase-Sensitive Vision Method // Appl. Opt. 2002. V. 41. P. 5503-5511.

15. Surrel Y. Design of algorithms for phase measurements by the use of phase stepping // Appl. Opt. 1996. V. 35. Nо.1. P. 51-60.

16. Градштейн И. С., Рыжик И. М. Таблицы интегралов, сумм, рядов и произведений. М.: Физматгиз, 1963.

17. Totzeck M., Tiziani H. J. Interference microscopy of sub-lambda structures: A rigorous computation method and measurements // Opt. Communications. 1997. V. 136. P. 61-74.

18. Toyozumi H., Ashley M. C. B. Intra-pixel sensitivity variation and charge transfer inefficiency - results of CCD scans // Astronomical Society of Australia. 2005. V. 22. P. 257-266.

19. Pivovaroff M., Jones S., Bautz M., Pivovaroff M., Jones S., Bautz M., Kissel S., Prigozhin G., Ricker G., Tsunemi H., Miyata E. Measurement of the Subpixel Structure of AXAF CCD's // IEEE Trans. Nucl. Sci. 1998. V. 45. Nо. 2. P. 164-175.


Рецензия

Для цитирования:


Левин Г.Г., Минаев В.Л., Илюшин Я.А., Ошлаков В.Г. Калибровка матричных фотоприёмников и прецизионное позиционирование объектов по растровым изображениям. Измерительная техника. 2017;(6):37-41.

Просмотров: 13


ISSN 0368-1025 (Print)