Preview

Измерительная техника

Расширенный поиск

Поиск


Сортировать по:     
 
Выпуск Название
 
№ 9 (2012) Методика калибровки сканирующего оптического микроскопа ближнего поля при измерении геометрических параметров объектов в режиме квазитрения Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. Ю. Кузин, П. А. Тодуа, В. И. Панов, А. А. Ежов, Д. А. Музыченко
"... ) высокоориентированного пиролитического графита в качестве эталонных объектов для калибровки сканирующего ближнепольного ..."
 
№ 10 (2013) Определение метрологических характеристик сканирующего ближнепольного оптического микроскопа при исследовании биологических объектов Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Ф. В. Булыгин, О. Е. Драчева, Н. П. Кутузов, В. Л. Лясковский, Г. В. Максимов, Ю. А. Николаев
"... сканирующего ближнепольного оптического микроскопа непосредственно в процессе измерений параметров ..."
 
№ 8 (2012) Эталонные средства измерений в оптической интерферометрии высокого разрешения Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Н. Н. Моисеев, С. Ю. Золотаревский
"... на основе интерференционных оптических и сканирующих зондовых микроскопов, применяемых для измерения малых ..."
 
№ 2 (2013) Особенности примененияупорядоченных пленок молекул фуллеренов для калибровки сканирующих туннельных микроскоповпри измерении геометрических параметров объектов Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. Ю. Кузин, П. А. Тодуа, В. И. Панов, А. И. Орешкин
"... эталонных объектов для калибровки сканирующих туннельных микроскопов. ..."
 
№ 11 (2010) Прослеживаемость результатов измерений в нанометровом диапазоне к единицам Международной системы единиц физических величин Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
С. С. Голубев, С. Н. Голубев
"... микроскопу; два метода калибровки сканирующих зондовых микроскопов - прямой и с использованием фурье-образа ..."
 
№ 11 (2010) Нанометрология и особенности метрологического обеспечения измерений параметров шероховатости и рельефа наноструктурированных поверхностей Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
В. Г. Лысенко, В. В. Соловьев, П. Н. Лускинович, С. Ю. Золотаревский, К. Л. Губский
"... наноструктурированных поверхностей. На основе анализа существующих разработок в области сканирующей зондовой микроскопии ..."
 
№ 11 (2015) Создание калибровочных образцов меры с элементами рельефа менее 100 нм Аннотация  похожие документы
Ю. М. Золотаревский, В. Л. Лясковский, Ю. Р. Ефименков, А. А. Самойленко
"... нм для калибровки оптических, ближнепольных и электронных микроскопов на основе металлизированого ..."
 
№ 4 (2013) Стандартные образцы наночастиц Au и ZnO для калибровки малоугловых рентгеновских дифрактометров Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
М. А. Запорожец, В. В. Волков, С. Н. Сульянов, Е. Г. Рустамова, С. П. Губин, В. Б. Митюхляев, А. Ю. Кузин, П. А. Тодуа, А. С. Авилов
"... Разработаны стандартные образцы на основе наночастиц Au и ZnO для калибровки малоугловых ..."
 
1 - 8 из 8 результатов

Советы по поиску:

  • Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
  • Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
  • По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
  • Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
  • Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
  • Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)