Для цитирования:
Лысенко В.Г., Соловьев В.В., Лускинович П.Н., Золотаревский С.Ю., Губский К.Л. Нанометрология и особенности метрологического обеспечения измерений параметров шероховатости и рельефа наноструктурированных поверхностей. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2010;(11):17-21.