

Влияние фокусировки на латеральное разрешение интерференционного микроскопа
Аннотация
Об авторах
Г. Г. ЛевинРоссия
Н. Н. Моисеев
Россия
Я. А. Илюшин
Россия
В. Л. Минаев
Россия
Список литературы
1. Левин Г. Г. и др. О латеральном разрешении интерференционного микроскопа // Измерительная техника. 2013. № 5. C. 16-19; Levin G. G e. a. The lateral resolution of an interference microscope // Measurement Techniques. 2013. V. 56. N. 5. P. 486-491.
2. Totzeck M., Tiziani H. J. Interference microscopy of sub-lambda structures: A rigorous computation method and measurements. // Opt. Commun. 1997. V. 136. P. 61-74.
3. Yee K. Numerical solution of initial boundary value problems involving Maxwell’s equations in isotropic media // IEEE Trans. Anten. Propagat. 1966. V. 14. P. 302-307.
4. Taflove A., Brodwin M. E. Numerical solution of steady-state electromagnetic scattering problems using the time-dependent Maxwell's equations. // IEEE Trans. Microwave Theory Tech. 1975. V. 23. P. 623-630.
5. В. П. Тычинский. Сверхразрешение и сингулярности в фазовых изображениях // УФН. 2008. Т. 178. С. 1205-1214.
Рецензия
Для цитирования:
Левин Г.Г., Моисеев Н.Н., Илюшин Я.А., Минаев В.Л. Влияние фокусировки на латеральное разрешение интерференционного микроскопа. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2014;(1):45-48.