Preview

Измерительная техника

Расширенный поиск
Доступ открыт Открытый доступ  Доступ закрыт Только для подписчиков

Влияние фокусировки на латеральное разрешение интерференционного микроскопа

Аннотация

Проанализирована зависимость латерального разрешения интерференционного микроскопа от расстояния между фазовой ступенькой и плоскостью фокуса объектива предметного канала микроскопа. Проведено сравнение результатов измерений на нескольких длинах волн, полученных методом численного моделирования в широком диапазоне высот фазовой ступеньки и путем обработки реальных фазовых изображений.

Об авторах

Г. Г. Левин
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Россия


Н. Н. Моисеев
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Россия


Я. А. Илюшин
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Россия


В. Л. Минаев
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Россия


Список литературы

1. Левин Г. Г. и др. О латеральном разрешении интерференционного микроскопа // Измерительная техника. 2013. № 5. C. 16-19; Levin G. G e. a. The lateral resolution of an interference microscope // Measurement Techniques. 2013. V. 56. N. 5. P. 486-491.

2. Totzeck M., Tiziani H. J. Interference microscopy of sub-lambda structures: A rigorous computation method and measurements. // Opt. Commun. 1997. V. 136. P. 61-74.

3. Yee K. Numerical solution of initial boundary value problems involving Maxwell’s equations in isotropic media // IEEE Trans. Anten. Propagat. 1966. V. 14. P. 302-307.

4. Taflove A., Brodwin M. E. Numerical solution of steady-state electromagnetic scattering problems using the time-dependent Maxwell's equations. // IEEE Trans. Microwave Theory Tech. 1975. V. 23. P. 623-630.

5. В. П. Тычинский. Сверхразрешение и сингулярности в фазовых изображениях // УФН. 2008. Т. 178. С. 1205-1214.


Рецензия

Для цитирования:


Левин Г.Г., Моисеев Н.Н., Илюшин Я.А., Минаев В.Л. Влияние фокусировки на латеральное разрешение интерференционного микроскопа. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2014;(1):45-48.

Просмотров: 82


ISSN 0368-1025 (Print)
ISSN 2949-5237 (Online)