Preview

Войти

Регистрация нового пользователя Забыли Ваш пароль?

Измерительная техника

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:

Левин Г.Г., Моисеев Н.Н., Минаев В.Л., Илюшин Я.А. Сравнение латеральных разрешений оптического и интерференционного микроскопов. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2013;(9):48-50.



Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 0368-1025 (Print)
ISSN 2949-5237 (Online)

141570, Московская обл., Солнечногорский р-н, п/о Менделеево, ФГУП "ВНИИФТРИ", редакция журнала "Измерительная техника".
тел.: 8(495)781-48-70
e-mail: izmt@yandex.ru

Обработка персональных данных
создано и поддерживается NEICON
(лаборатория Elpub)