Сортировать по:
| Выпуск | Название | |
| № 8 (2015) | Образование окисной пленки на поверхности кремниевой рельефной структуры в процессе плазменной очистки | Аннотация похожие документы |
| В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, М. А. Степович, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов, Д. А. Карабанов | ||
| "... Обнаружен эффект контаминации на поверхности кремниевой рельефной структуры в процессе плазменной ..." | ||
| № 3 (2015) | Трехмерная реконструкция поверхностей рельефных структур по стереоизображениям, полученным в растровом электронном микроскопе | Аннотация похожие документы |
| В. П. Гавриленко, Д. А. Карабанов, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. А. Михуткин, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов, Т. Н. Баймухаметов, А. Л. Васильев | ||
| "... микроскопе, восстановлен профиль поверхности двух образцов из монокристаллического кремния, содержащих ..." | ||
| № 9 (2015) | Измерения толщины оксидной пленки на поверхности кремния электронно-зондовым методом | Аннотация похожие документы |
| В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, М. А. Степович, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
| "... Предложен электронно-зондовый способ измерений толщины оксидной пленки на поверхности кремния. Дана ..." | ||
| № 3 (2013) | Искажение профиля рельефных элементов на поверхности монокристаллического кремния в результате их контаминации в низковольтном растровом электронном микроскопе | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов, В. А. Шаронов | ||
| "... при энергии электронов 1 кэВ на профиль рельефных элементов меры МШПС-2.0К. Показано, что после ..." | ||
| № 8 (2016) | Экспериментальные исследования трёхмерной реконструкции рельефных структур по стереоизображениям, полученным в растровом электронном микроскопе | Аннотация похожие документы |
| А. Ю. Кузин, А. Л. Васильев, Д. А. Карабанов, В. Б. Митюхляев, А. А. Михуткин, М. Ю. Пресняков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
| "... кремниевых структур с трапецеидальным профилем рельефных элементов. Стереоизображения получены с помощью ..." | ||
| № 3 (2019) | Пьезорезонансные химические сенсоры на эластичных полимерных пленках | Аннотация похожие документы |
| В. Н. Симонов, Д. А. Власов | ||
| № 5 (2013) | Способ оценки стабильности масштабного коэффициента просвечивающего электронного микроскопа | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. В. Заблоцкий, А. С. Авилов, Д. С. Бодунов, А. А. Кузин, А. Ю. Кузин, А. А. Кузьмин, П. А. Тодуа | ||
| "... микроскопа JEM-2100 при помощи тест-объекта, выполненного в виде тонкого среза кристаллической рельефной ..." | ||
| № 3 (2017) | Измерение высоты элементов нанорельефа поверхности методом трёхмерной реконструкции в растровом электронном микроскопе | Аннотация похожие документы |
| С. А. Дарзнек, Д. А. Карабанов, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
| "... Проведены сравнительные измерения высоты ступени нанорельефа поверхности кремниевой пластины ..." | ||
| № 9 (2012) | Возможности комбинирования резистометрии и инфракрасной фурье-спектроскопии в контроле формирования компактированныхметалл-оксидныхнанокомпозитов | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. А. Котенев, Н. П. Соколова, А. М. Горбунов, Л. Б. Максаева, М. Р. Киселев, А. Ю. Цивадзе | ||
| № 5 (2022) | Влияние кривизны поверхности стандартных образцов кремния на его структурные характеристики | Аннотация похожие документы |
| Б. Н. Кодесс | ||
| "... элементарной ячейки стандартных образцов дифракционных свойств кремния обнаружено изменение структурных ..." | ||
| № 11 (2017) | Измерение профиля поверхности моноатомной многослойной наноструктуры кремния интерференционным методом | Аннотация похожие документы |
| В. Л. Минаев, Г. Г. Левин, А. В. Латышев, Д. В. Щеглов | ||
| "... Рассмотрена задача измерения профиля моноатомной многослойной поверхности наноструктур кремния с ..." | ||
| № 9 (2017) | Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методом трибометрии | Аннотация похожие документы |
| Н. А. Ивлиев, В. А. Колпаков, С. В. Кричевский, Н. Л. Казанский | ||
| "... кремния при оценке чистоты их поверхности. Показано, что чем меньше скорость движения подложки-зонда, тем ..." | ||
| № 9 (2014) | Идентификация наночастиц и измерение их концентрации в тонких пленках наноструктурированных полимеров | Аннотация похожие документы |
| А. В. Ушаков, М. Н. Баршутина, С. Н. Баршутин | ||
| "... концентрацию наночастиц различной природы размером 2-10 нм в тонких пленках полимеров. Проведена ..." | ||
| № 5 (2015) | Наноразмерные пленки Ni-Ti c заданным температурным коэффициентом сопротивления для измерительных преобразователей | Аннотация похожие документы |
| В. А. Васильев, А. В. Хошев | ||
| № 11 (2013) | Эллипсометрический способ оценки неоднородности толщины тонкопленочных покрытий | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. С. Батурин, В. С. Бормашов, В. П. Гавриленко, А. В. Заблоцкий, С. А. Зайцев, А. Ю. Кузин, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
| № 8 (2012) | Методы калибровки эталонных плазменных излучателей с использованием электронного синхротрона с сильным магнитным полем | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| С. И. Аневский, Ю. М. Золотаревский, В. С. Иванов, В. Н. Крутиков, О. А. Минаева, Р. В. Минаев, Д. Н. Лашков, Д. С. Сенин | ||
| "... Разработаны методы калибровки вторичных эталонных плазменных излучателей, основанные на ..." | ||
| № 12 (2013) | Система спектрального контроля нанесения многослойных диэлектрических покрытий | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. А. Лабусов, З. В. Семенов, И. А. Зарубин, М. С. Саушкин, Г. В. Эрг, С. И. Ковалев | ||
| № 10 (2012) | Стандартный образец для калибровки просвечивающих электронных микроскопов | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Д. С. Бодунов, В. П. Гавриленко, А. В. Заблоцкий, А. А. Кузин, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
| "... монокристаллического кремния ГСО 10030–2011, предназначенного для калибровки просвечивающих электронных микроскопов в ..." | ||
| № 2 (2013) | Особенности примененияупорядоченных пленок молекул фуллеренов для калибровки сканирующих туннельных микроскоповпри измерении геометрических параметров объектов | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. Ю. Кузин, П. А. Тодуа, В. И. Панов, А. И. Орешкин | ||
| № 12 (2012) | Оптимизация параметров эталонного источника синхротронного излучения с сильным магнитным полем для калибровки ультрафиолетовых плазменных излучателей и интегральных радиометров-дозиметров | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| С. И. Аневский, Ю. М. Золотаревский, В. С. Иванов, В. Н. Крутиков, О. А. Минаева, Р. В. Минаев, Д. С. Сенин, А. Ю. Титов | ||
| № 9 (2013) | Разработка стандартных образцов и методов калибровки малоугловых рентгеновских дифрактометров для сертификации и стандартизации продукции наноиндустрии | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. С. Авилов, А. С. Батурин, В. В. Волков, Ю. А. Дьякова, М. А. Ермакова, А. Ю. Кузин, М. А. Марченкова, В. Б. Митюхляев, А. Ю. Серегин, С. Н. Сульянов, Е. Ю. Терещенко, П. А. Тодуа | ||
| № 12 (2012) | Моделирование и оценка параметровморфологии поверхностей тонких пленок нанои микроэлектромеханических систем | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. А. Васильев, П. С. Чернов | ||
| № 5 (2016) | Сенсор из графитовой бумаги с многостенными нанотрубками | Аннотация похожие документы |
| С. В. Антоненко | ||
| № 6 (2013) | Стандартные образцы пространственных характеристик наноструктур на основе аморфных многослойных покрытий | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. С. Батурин, В. С. Бормашов, М. А. Ермакова, Е. А. Морозова, С. А. Морозов, Е. В. Коростылев, С. С. Зарубин, А. М. Маркеев, П. А. Тодуа | ||
| № 10 (2013) | Волоконно-оптическая спектроскопия для контроля процессов электрооксидирования металлов | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. А. Котенев, А. Ю. Цивадзе | ||
| № 9 (2018) | Микроэлектронный газовый резистивный сенсор на основе нанокристаллических плёнок диоксида олова с аддитивами тербия и сурьмы | Аннотация похожие документы |
| С. М. Калугин, А. М. Гуляев, Д. А. Строганов, О. Б. Сарач, А. А. Тевяшов, В. А. Котов | ||
| "... Рассмотрена технология изготовления микроэлектронного кремниевого резистивного газового сенсора ..." | ||
| № 11 (2010) | Прослеживаемость результатов измерений в нанометровом диапазоне к единицам Международной системы единиц физических величин | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| С. С. Голубев, С. Н. Голубев | ||
| "... расчета его составляющих при калибровке по рельефной мере нанометрового диапазона TGQ1. ..." | ||
| № 6 (2015) | Применение пьезоструктур для создания струнного измерительного преобразователя на основе автоколебательной системы | Аннотация похожие документы |
| Е. В. Кучумов, И. Н. Баринов, В. С. Волков, С. А. Гурин, С. П. Евдокимов | ||
| "... чувствительного элемента с применением монокристаллического кремния и пьезокерамических пленок. Приведены ..." | ||
| 1 - 28 из 28 результатов | ||
Советы по поиску:
- Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
- Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
- По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
- Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
- Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
- Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
- Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
- Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)
