Моделирование и оценка параметровморфологии поверхностей тонких пленок нанои микроэлектромеханических систем
Аннотация
Об авторах
В. А. ВасильевРоссия
П. С. Чернов
Россия
Список литературы
1. Белозубов Е.М., Васильев В.А., Громков Н.В.Тонкопленочные нано- и микроэлектромеханические системы – основа современных и перспективных датчиков давления для ракетной и авиационной техники // Измерительная техника. 2009.№ 7. С.35–38;
2. Belozubov E. M., Vasil`ev V.A., Gromkov N.V. Thin-film nano- and micro-electromechanical systems – the basis of contemporary and future pressure sensors for rocket and aviation engineering // Measurement Techniques. 2009. V. 52. N 7. P. 739–744.
3. Venables, J. Introduction to Surface and Thin Film Processes. Cambridge: Univer. Press, 2000.
4. Oura K.е. а. Surface Science: An Introduction. N.Y.:Springer, 2010.
5. Hans B., Krause D. Thin Films on Glass. N.Y.:Springer, 2010.
6. Mahan J. E. Physical Vapor Deposition of Thin Films. USA, N. Y.:Wiley-Interscience. 2000.
7. Wilkinson S. F., Edwards D. R.The Surface Statistics of a Granular Aggregate // Proc. Roy. Soc.1982.V. 17. P. 17–31.
8. Kardar M., Parisi G., Zhang Y.-C.Dynamic Scaling of Growing Interfaces // Phys. Rev. Lett. 1986.V. 56. P. 889.
9. Vicsek M., Vicsek T. Fractal Growth Models // ERCIM News.1997. N29. P. 36.
10. Mattos T.G., Moreira J.G., Atman A.P.F. A discrete method to study stochastic growth equations: a cellular automata perspective // J. Phys. A: Math. Theor. 2007. V.40.13245.
11. Bhattacharyya P. Growth of Surfaces Generated by Probabilistic Cellular Automation // Int. J. Modern Physics C.1999. №1. P. 165– 181.
12. Barabasi A. L., Stanley H.E. Fractal concepts in surface growth. Cambrige: Univ. Press? 1995.
13. Russ J. C. The Image Processing Handbook. Boca Raton (USA): CRC Press, 2011.
14. Jeung Hun Park, Chae-Ryung Cho. Deposition-Temperature Effects on AZO Thin Films Prepared by RF Magnetron Sputtering and Their Physical Properties // Korean Phys. Soc.2006. V. 49.P. 584–588.
15. DikovskaA.Og.е. а. Thin ZnO filmsproducedbypulsedlaserdeposition // J.Optoelectronics and Advanced Materials.2005. V. 7.N 3.P. 1329–1334.
Рецензия
Для цитирования:
Васильев В.А., Чернов П.С. Моделирование и оценка параметровморфологии поверхностей тонких пленок нанои микроэлектромеханических систем. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2012;(12):13-16.