Система спектрального контроля нанесения многослойных диэлектрических покрытий
Аннотация
Об авторах
В. А. ЛабусовРоссия
З. В. Семенов
Россия
И. А. Зарубин
Россия
М. С. Саушкин
Россия
Г. В. Эрг
Россия
С. И. Ковалев
Россия
Список литературы
1. Badoil B. e.a. Manufacturing of an absorbing filter controlled by a broadband optical monitoring // OSA. Opt. Express. 2008. V. 16. N 16. P. 12008–12017
2. Wilbrandt S. e. a. In-situ broadband monitoring and characterization of optical coatings // Opt. Soc. Amer. 2004.
3. Лабусов В.А. и др. Многоканальный спектрометр «Колибри-2» и его использование для одновременного определения щелочных и щелочноземельных металлов методом пламенной фотометрии // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. Спец. выпуск. 2007. Т. 73. N S. С. 35–39
4. Tikhonravov A.V., Trubetskov M.K. Computational manufacturing as a bridge between design and production // OSA, Appl. Opt. 2005. V. 44. N 32. P. 6877–6884
5. Программный пакет “OptiLayer thin film software” [электрон. ресурс] http://www.optilayer.com дата обращения: 23.05.2013 г.
6. Schulz U. Wideband antireflection coatings by combining interference multilayers with structured top layers // Opt. Express. 2009. V. 17. N 11. P. 8704–8708.
Рецензия
Для цитирования:
Лабусов В.А., Семенов З.В., Зарубин И.А., Саушкин М.С., Эрг Г.В., Ковалев С.И. Система спектрального контроля нанесения многослойных диэлектрических покрытий. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2013;(12):11-14.