Preview

Измерительная техника

Расширенный поиск

Система спектрального контроля нанесения многослойных диэлектрических покрытий

Аннотация

Создана система прецизионного спектрального контроля толщин слоев многослойных диэлектрических покрытий в широком спектральном диапазоне. Приведен пример использования системы для изготовления просветляющего покрытия с максимальным коэффициентом отражения 0,15 % в спектральном диапазоне 400–660 нм на вакуумной установке ВУ-2М.

Об авторах

В. А. Лабусов
Институт автоматики и электрометрии СO РАН
Россия


З. В. Семенов
Институт автоматики и электрометрии СO РАН
Россия


И. А. Зарубин
Институт автоматики и электрометрии СO РАН
Россия


М. С. Саушкин
Институт автоматики и электрометрии СO РАН
Россия


Г. В. Эрг
Институт лазерной физики СО РАН
Россия


С. И. Ковалев
Институт лазерной физики СО РАН
Россия


Список литературы

1. Badoil B. e.a. Manufacturing of an absorbing filter controlled by a broadband optical monitoring // OSA. Opt. Express. 2008. V. 16. N 16. P. 12008–12017

2. Wilbrandt S. e. a. In-situ broadband monitoring and characterization of optical coatings // Opt. Soc. Amer. 2004.

3. Лабусов В.А. и др. Многоканальный спектрометр «Колибри-2» и его использование для одновременного определения щелочных и щелочноземельных металлов методом пламенной фотометрии // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. Спец. выпуск. 2007. Т. 73. N S. С. 35–39

4. Tikhonravov A.V., Trubetskov M.K. Computational manufacturing as a bridge between design and production // OSA, Appl. Opt. 2005. V. 44. N 32. P. 6877–6884

5. Программный пакет “OptiLayer thin film software” [электрон. ресурс] http://www.optilayer.com дата обращения: 23.05.2013 г.

6. Schulz U. Wideband antireflection coatings by combining interference multilayers with structured top layers // Opt. Express. 2009. V. 17. N 11. P. 8704–8708.


Рецензия

Для цитирования:


Лабусов В.А., Семенов З.В., Зарубин И.А., Саушкин М.С., Эрг Г.В., Ковалев С.И. Система спектрального контроля нанесения многослойных диэлектрических покрытий. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2013;(12):11-14.

Просмотров: 67


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 0368-1025 (Print)
ISSN 2949-5237 (Online)