Волоконно-оптическая спектроскопия для контроля процессов электрооксидирования металлов
Аннотация
Представлен метод исследования фазово-неоднородных металл-оксидных поверхностных слоев при помощи волоконно-оптического спектрометра. Коэффициенты отражения металла на разных длинах волн обрабатываются модифицированными к рефлектометрии алгоритмами оптической спектротомографии, что позволяет контролировать толщину и химический состав неоднородных поверхностных слоев. Дан пример расчета параметров оксидных пленок на поверхности сплава Fe–18Cr, обработанного при печном и электроконтактном нагреве.
Об авторах
В. А. Котенев
Институт физической химии и электрохимии им. А. Н .Фрумкина РАН
Россия
Россия
А. Ю. Цивадзе
Институт физической химии и электрохимии им. А. Н .Фрумкина РАН
Россия
Россия
Список литературы
1. Herman I. Optical diagnostics for thin film processing. N. Y. Acad. Press, 1996.
2. Гагина И. А. и др. Фурье-ИК-спектроскопия в длительном коррозионном мониторинге взаимодействия коммерческого листового алюминия с четыреххлористым углеродом при комнатной температуре // Физикохимия поверхности и защита материалов. 2012. Т. 48. № 5. С. 495 – 500.
3. Петрунин М. А. и др. Направленное формирование и защитное действие самоорганизующихся винилсилоксановых нанослоев на поверхности меди // Физикохимия поверхности и защита материалов. 2012. Т. 48. № 6. С. 554–563.
4. Optical Sensors and Microsystems. New Concepts, Materials, Technologies / Eds. S.Martellucci, A.N.Chester, A.G.Mignani / N. Y.: Plenum Publ., 2000.
5. Kotenev V. A. Optical and laser methods in investigations of corrosion problems. Helsinki University of Technology. Finland, 1994. P. 1–26.
6. Аззам Р., Башара Н. Эллипсометрия и поляризованный свет. М.: Мир, 1981.
7. Kotenev V. A. Ellipsometric tomography // Proc. SPIE. 1992. V. 1843. P. 259.
8. Тихонов А. Н., Арсенин В. Я. Методы решения некорректных задач. Л.: Наука, 1986.
9. Верлань А. Ф., Сизиков В. С. Интегральные уравнения. Киев: Наукова Думка, 1986.
10. Мровец С., Вербер Т. Современные жаростойкие материалы: Справочник. М.: Металлургия, 1986.
11. Котенев В. А., Цивадзе А. Ю. Зондовая спектроскопия комбинационного рассеяния в контроле электродеградации тонкопленочных проводников // Измерительная техника. 2011. № 12. С. 54–58; Kotenev V. A., Tsivadze A. Yu. Probe raman spectroscopy in monitoring the electrical degradation of thin-film conductors // Measurement Techniques. 2011. V. 54. N. 12. P. 1421–1426.
12. Tanaka T. Optical constants of polycrystalline 3d transition metal oxides in the wavelength region 350to1200 nm. // Jap. J. Appl. Phys. 1979. V. 18. N. 6. P. 1043–1047.
13. Idczak E., Oleszkiewicz E. Ellipsometric examination of the thermal oxidation process for plated chromium films // Thin Solid Films. 1981. V. 77. N.4. P. 301–303.
14. Котенев В. А. О низкотемпературной пассивности железа при газовом окислении // Защита металлов. 2003. Т. 39. № 4. С. 341–351.
15. Котенев В. А. и др. Об электроконтактном оксидировании вакуумных наноконденсатов железа // Физикохимия поверхности и защита материалов. 2011. Т. 47. № 6. С. 659–667.
16. Котенев В. А. и др. Влияние контактного нагрева постоянным током на процесс изотермического газового оксидирования хромистых сталей //Физика и химия обработки материалов. 1999. № 4. С. 45–52.
Рецензия
Для цитирования:
Котенев В.А., Цивадзе А.Ю. Волоконно-оптическая спектроскопия для контроля процессов электрооксидирования металлов. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2013;(10):29-32.
Просмотров:
33
Послать статью по эл. почте 