<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-169</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>OPTICOPHYSICAL MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Волоконно-оптическая спектроскопия для контроля процессов электрооксидирования металлов</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Котенев</surname><given-names>В. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">kotenev@phyche.ac.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Цивадзе</surname><given-names>А. Ю.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Институт физической химии и электрохимии им. А. Н .Фрумкина РАН</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2013</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>10</issue><fpage>29</fpage><lpage>32</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/169">https://www.izmt.ru/jour/article/view/169</self-uri><abstract><p>Представлен метод исследования фазово-неоднородных металл-оксидных поверхностных слоев при помощи волоконно-оптического спектрометра. Коэффициенты отражения металла на разных длинах волн обрабатываются модифицированными к рефлектометрии алгоритмами оптической спектротомографии, что позволяет контролировать толщину и химический состав неоднородных поверхностных слоев. Дан пример расчета параметров оксидных пленок на поверхности сплава Fe–18Cr, обработанного при печном и электроконтактном нагреве.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The method for study of phase-heterogeneous metal-oxide surface layers by means of fiber optics spectrometers is presented. The metal reflection coefficients for different wavelenghts are processed by modified to reflectometry optical spectrotomography algorithms. This modification allows to control the thickness and chemical composition of heterogeneous surface layers. An example of calculation of parameters of oxide films on the surface of Fe–18Cr processed at furnace and electrocontact heating is given.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>неоднородные металл-оксидные поверхностные слои</kwd><kwd>оксидные пленки</kwd><kwd>толщина и химический состав</kwd><kwd>волоконно-оптическая спектроскопия</kwd><kwd>нанотомография</kwd><kwd>heterogeneous metal-oxide surface layers</kwd><kwd>oxide films</kwd><kwd>thickness and chemical composition</kwd><kwd>fiber optics spectroscopy</kwd><kwd>nanotomography</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Herman I. Optical diagnostics for thin film processing. N. Y. Acad. Press, 1996.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Herman I. Optical diagnostics for thin film processing. N. Y. Acad. Press, 1996.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гагина И. А. и др. Фурье-ИК-спектроскопия в длительном коррозионном мониторинге взаимодействия коммерческого листового алюминия с четыреххлористым углеродом при комнатной температуре // Физикохимия поверхности и защита материалов. 2012. Т. 48. № 5. С. 495 – 500.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гагина И. А. и др. Фурье-ИК-спектроскопия в длительном коррозионном мониторинге взаимодействия коммерческого листового алюминия с четыреххлористым углеродом при комнатной температуре // Физикохимия поверхности и защита материалов. 2012. Т. 48. № 5. С. 495 – 500.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Петрунин М. А. и др. Направленное формирование и защитное действие самоорганизующихся винилсилоксановых нанослоев на поверхности меди // Физикохимия поверхности и защита материалов. 2012. Т. 48. № 6. С. 554–563.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Петрунин М. А. и др. Направленное формирование и защитное действие самоорганизующихся винилсилоксановых нанослоев на поверхности меди // Физикохимия поверхности и защита материалов. 2012. Т. 48. № 6. С. 554–563.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Optical Sensors and Microsystems. New Concepts, Materials, Technologies / Eds. S.Martellucci, A.N.Chester, A.G.Mignani / N. Y.: Plenum Publ., 2000.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Optical Sensors and Microsystems. New Concepts, Materials, Technologies / Eds. S.Martellucci, A.N.Chester, A.G.Mignani / N. Y.: Plenum Publ., 2000.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kotenev V. A. Optical and laser methods in investigations of corrosion problems. Helsinki University of Technology. Finland, 1994. P. 1–26.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kotenev V. A. Optical and laser methods in investigations of corrosion problems. Helsinki University of Technology. Finland, 1994. P. 1–26.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Аззам Р., Башара Н. Эллипсометрия и поляризованный свет. М.: Мир, 1981.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Аззам Р., Башара Н. Эллипсометрия и поляризованный свет. М.: Мир, 1981.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kotenev V. A. Ellipsometric tomography // Proc. SPIE. 1992. V. 1843. P. 259.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kotenev V. A. Ellipsometric tomography // Proc. SPIE. 1992. V. 1843. P. 259.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Тихонов А. Н., Арсенин В. Я. Методы решения некорректных задач. Л.: Наука, 1986.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Тихонов А. Н., Арсенин В. Я. Методы решения некорректных задач. Л.: Наука, 1986.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Верлань А. Ф., Сизиков В. С. Интегральные уравнения. Киев: Наукова Думка, 1986.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Верлань А. Ф., Сизиков В. С. Интегральные уравнения. Киев: Наукова Думка, 1986.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Мровец С., Вербер Т. Современные жаростойкие материалы: Справочник. М.: Металлургия, 1986.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Мровец С., Вербер Т. Современные жаростойкие материалы: Справочник. М.: Металлургия, 1986.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Котенев В. А., Цивадзе А. Ю. Зондовая спектроскопия комбинационного рассеяния в контроле электродеградации тонкопленочных проводников // Измерительная техника. 2011. № 12. С. 54–58; Kotenev V. A., Tsivadze A. Yu. Probe raman spectroscopy in monitoring the electrical degradation of thin-film conductors // Measurement Techniques. 2011. V. 54. N. 12. P. 1421–1426.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Котенев В. А., Цивадзе А. Ю. Зондовая спектроскопия комбинационного рассеяния в контроле электродеградации тонкопленочных проводников // Измерительная техника. 2011. № 12. С. 54–58; Kotenev V. A., Tsivadze A. Yu. Probe raman spectroscopy in monitoring the electrical degradation of thin-film conductors // Measurement Techniques. 2011. V. 54. N. 12. P. 1421–1426.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Tanaka T. Optical constants of polycrystalline 3d transition metal oxides in the wavelength region 350to1200 nm. // Jap. J. Appl. Phys. 1979. V. 18. N. 6. P. 1043–1047.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Tanaka T. Optical constants of polycrystalline 3d transition metal oxides in the wavelength region 350to1200 nm. // Jap. J. Appl. Phys. 1979. V. 18. N. 6. P. 1043–1047.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Idczak E., Oleszkiewicz E. Ellipsometric examination of the thermal oxidation process for plated chromium films // Thin Solid Films. 1981. V. 77. N.4. P. 301–303.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Idczak E., Oleszkiewicz E. Ellipsometric examination of the thermal oxidation process for plated chromium films // Thin Solid Films. 1981. V. 77. N.4. P. 301–303.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Котенев В. А. О низкотемпературной пассивности железа при газовом окислении // Защита металлов. 2003. Т. 39. № 4. С. 341–351.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Котенев В. А. О низкотемпературной пассивности железа при газовом окислении // Защита металлов. 2003. Т. 39. № 4. С. 341–351.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Котенев В. А. и др. Об электроконтактном оксидировании вакуумных наноконденсатов железа // Физикохимия поверхности и защита материалов. 2011. Т. 47. № 6. С. 659–667.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Котенев В. А. и др. Об электроконтактном оксидировании вакуумных наноконденсатов железа // Физикохимия поверхности и защита материалов. 2011. Т. 47. № 6. С. 659–667.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Котенев В. А. и др. Влияние контактного нагрева постоянным током на процесс изотермического газового оксидирования хромистых сталей //Физика и химия обработки материалов. 1999. № 4. С. 45–52.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Котенев В. А. и др. Влияние контактного нагрева постоянным током на процесс изотермического газового оксидирования хромистых сталей //Физика и химия обработки материалов. 1999. № 4. С. 45–52.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
