| |
| Выпуск |
Название |
| |
| № 5 (2020) |
Достаточное условие надёжности измерений рельефа поверхности образца методом атомно-силовой микроскопии |
Аннотация
|
|
А. С. Кравчук, А. И. Кравчук |
| |
| № 1 (2021) |
Измерение длины объектов на изображениях сканирующего зондового микроскопа с помощью детекторов кривизны |
Аннотация
|
|
П. В. Гуляев |
| |
| № 3 (2017) |
Применение метода импульсной лазерной абляции для получения контрастных жидкостей на основе наночастиц оксида диспрозия Dy2O3 |
Аннотация
|
|
, А. . Барчански |
| |
| № 12 (2018) |
Интегральная оценка эффектов агрегации наночастиц в растворах по автокорреляционным функциям интенсивности рассеянного излучения |
Аннотация
|
|
А. Д. Левин, М. К. Аленичев, Е. Б. Дрожженникова, Е. С. Кострикина |
| |
| № 3 (2017) |
Измерение высоты элементов нанорельефа поверхности методом трёхмерной реконструкции в растровом электронном микроскопе |
Аннотация
|
|
С. А. Дарзнек, Д. А. Карабанов, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов |
| |
| № 9 (2017) |
Метод измерения спектра размеров взвешенных наночастиц |
Аннотация
|
|
В. В. Семёнов, Ю. Г. Асцатуров, Ю. Б. Ханжонков |
| |
| № 3 (2014) |
Разработка экспериментально-аналитической методики определения температурных деформаций концевых мер длины в нанометровом диапазоне |
Аннотация
|
|
О. С. Башевская, С. В. Бушуев, Ю. В. Подураев, М. Г. Ковальский, Г. Б. Кайнер, Е. В. Ромаш, Е. А. Мельниченко |
| |
| № 9 (2017) |
Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методом трибометрии |
Аннотация
|
|
Н. А. Ивлиев, В. А. Колпаков, С. В. Кричевский, Н. Л. Казанский |
| |
| № 6 (2018) |
Применение оптических микрорезонаторов для измерения концентрации наночастиц в жидкости |
Аннотация
|
|
А. Д. Иванов, К. Н. Миньков, А. А. Самойленко, Д. Д. Ружицкая, Г. Г. Левин |
| |
| № 9 (2014) |
Идентификация наночастиц и измерение их концентрации в тонких пленках наноструктурированных полимеров |
Аннотация
|
|
А. В. Ушаков, М. Н. Баршутина, С. Н. Баршутин |
| |
| № 9 (2013) |
Разработка стандартных образцов и методов калибровки малоугловых рентгеновских дифрактометров для сертификации и стандартизации продукции наноиндустрии |
Аннотация
PDF (Rus)
|
|
А. С. Авилов, А. С. Батурин, В. В. Волков, Ю. А. Дьякова, М. А. Ермакова, А. Ю. Кузин, М. А. Марченкова, В. Б. Митюхляев, А. Ю. Серегин, С. Н. Сульянов, Е. Ю. Терещенко, П. А. Тодуа |
| |
| № 9 (2014) |
Интегральные измерения цвета наноразмерных излучателей |
Аннотация
|
|
Е. В. Марков, О. М. Михайлов |
| |
| № 8 (2016) |
Экспериментальные исследования трёхмерной реконструкции рельефных структур по стереоизображениям, полученным в растровом электронном микроскопе |
Аннотация
|
|
А. Ю. Кузин, А. Л. Васильев, Д. А. Карабанов, В. Б. Митюхляев, А. А. Михуткин, М. Ю. Пресняков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов |
| |
| № 10 (2016) |
Тепловые эффекты при низковольтном электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе с нанометровой локальностью |
Аннотация
|
|
А. Ю. Кузин, М. А. Степович, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов |
| |
| № 8 (2016) |
Измерение неоднородности толщины наноплёнок электронно-зондовым методом |
Аннотация
|
|
С. А. Дарзнек, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, М. А. Степович, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов |
| |
| № 10 (2016) |
Экспресс-измерение проницаемости растворителей через нанопористые мембранные материалы и барьерные плёнки методом регистрации динамического уменьшения давления |
Аннотация
|
|
Ю. С. Ерёмин, А. А. Белогорлов, А. М. Грехов, А. В. Волков |
| |
| № 2 (2017) |
Метод аттестационного контроля поверхностных неоднородностей оптических деталей на основе частотного анализа профиля поверхности |
Аннотация
|
|
Д. Г. Денисов, Н. В. Барышников, Я. В. Гладышева, В. Е. Карасик, А. Б. Морозов, В. Е. Патрикеев |
| |
| № 6 (2013) |
Стандартные образцы пространственных характеристик наноструктур на основе аморфных многослойных покрытий |
Аннотация
PDF (Rus)
|
|
А. С. Батурин, В. С. Бормашов, М. А. Ермакова, Е. А. Морозова, С. А. Морозов, Е. В. Коростылев, С. С. Зарубин, А. М. Маркеев, П. А. Тодуа |
| |
| № 6 (2016) |
Применение резонансно-туннельного метода измерений концентрации фуллеренов в кремнийорганических композитах |
Аннотация
|
|
М. Н. Баршутина, С. Н. Баршутин, А. В. Ушаков |
| |
| № 9 (2015) |
Измерения толщины оксидной пленки на поверхности кремния электронно-зондовым методом |
Аннотация
|
|
В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, М. А. Степович, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов |
| |
| № 6 (2013) |
Cоздание стандартных образцов сорбционных свойств нанопористых силикагелей |
Аннотация
PDF (Rus)
|
|
Е. П. Собина, И. С. Пузырев, С. В. Медведевских, М. Ю. Медведевских, М. П. Крашенинина, Л. В. Адамова, Л. К. Неудачина, Ю. Г. Ятлук |
| |
| № 5 (2013) |
Способ оценки стабильности масштабного коэффициента просвечивающего электронного микроскопа |
Аннотация
PDF (Rus)
|
|
А. В. Заблоцкий, А. С. Авилов, Д. С. Бодунов, А. А. Кузин, А. Ю. Кузин, А. А. Кузьмин, П. А. Тодуа |
| |
| № 11 (2016) |
Сравнение результатов измерений размеров наночастиц в стабильных коллоидных растворах методами акустической спектроскопии, динамического рассеяния света и просвечивающей электронной микроскопии |
Аннотация
|
|
А. А. Лизунова, А. А. Лошкарев, Ю. М. Токунов, В. В. Иванов |
| |
| № 4 (2013) |
Стандартные образцы наночастиц Au и ZnO для калибровки малоугловых рентгеновских дифрактометров |
Аннотация
PDF (Rus)
|
|
М. А. Запорожец, В. В. Волков, С. Н. Сульянов, Е. Г. Рустамова, С. П. Губин, В. Б. Митюхляев, А. Ю. Кузин, П. А. Тодуа, А. С. Авилов |
| |
| № 3 (2013) |
Искажение профиля рельефных элементов на поверхности монокристаллического кремния в результате их контаминации в низковольтном растровом электронном микроскопе |
Аннотация
PDF (Rus)
|
|
В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов, В. А. Шаронов |
| |
| № 2 (2013) |
Особенности примененияупорядоченных пленок молекул фуллеренов для калибровки сканирующих туннельных микроскоповпри измерении геометрических параметров объектов |
Аннотация
PDF (Rus)
|
|
А. Ю. Кузин, П. А. Тодуа, В. И. Панов, А. И. Орешкин |
| |
| № 8 (2017) |
Динамический метод наноиндентирования |
Аннотация
|
|
В. В. Мещеряков, В. В. Масленников, Э. В. Мелекесов |
| |
| № 9 (2012) |
Методика калибровки сканирующего оптического микроскопа ближнего поля при измерении геометрических параметров объектов в режиме квазитрения |
Аннотация
PDF (Rus)
|
|
А. Ю. Кузин, П. А. Тодуа, В. И. Панов, А. А. Ежов, Д. А. Музыченко |
| |
| № 8 (2014) |
Разработка стандартных образцов диаметра наночастиц коллоидных растворов оксида алюминия и диоксида титана |
Аннотация
|
|
А. А. Лизунова, Е. Г. Калинина, И. В. Бекетов, В. В. Иванов |
| |
| № 9 (2016) |
Программно-аппаратный комплекс для электрофизического контроля КМОП-технологии на тестовых структурах |
Аннотация
|
|
К. Г. Поповских, В. С. Солдатов, М. В. Орешков |
| |
| № 9 (2012) |
Измерение параметров шероховатости с использованием интерференционного микроскопа |
Аннотация
PDF (Rus)
|
|
Н. Н. Моисеев, И. Ю. Цельмина |
| |
| № 8 (2014) |
Измерение локальной термоЭДС металлов методом сканирующей туннельной спектроскопии |
Аннотация
|
|
В. И. Троян, П. В. Борисюк, О. С. Васильев, А. В. Красавин, В. В. Флоренцев |
| |
| № 9 (2016) |
Локальные физико-механические свойства материалов для проведения калибровки наноиндентометров |
Аннотация
|
|
Ю. И. Головин, А. И. Тюрин, Э. Г. Асланян, Т. С. Пирожкова, М. О. Воробьев |
| |
| № 10 (2012) |
Стандартный образец для калибровки просвечивающих электронных микроскопов |
Аннотация
PDF (Rus)
|
|
Д. С. Бодунов, В. П. Гавриленко, А. В. Заблоцкий, А. А. Кузин, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов |
| |
| № 7 (2016) |
Определение геометрических параметров золотых наностержней методами частично деполяризованного динамического рассеяния света и абсорбционной спектрофотометрии |
Аннотация
|
|
А. Д. Левин, Е. А. Шмыткова, К. Н. Миньков |
| |
| № 11 (2017) |
Измерение профиля поверхности моноатомной многослойной наноструктуры кремния интерференционным методом |
Аннотация
|
|
В. Л. Минаев, Г. Г. Левин, А. В. Латышев, Д. В. Щеглов |
| |
| № 5 (2015) |
Наноразмерные пленки Ni-Ti c заданным температурным коэффициентом сопротивления для измерительных преобразователей |
Аннотация
|
|
В. А. Васильев, А. В. Хошев |
| |
| № 7 (2016) |
Применение двухдиодных автодинов в устройствах радиоволнового контроля размеров изделий |
Аннотация
|
|
В. Я. Носков, К. А. Игнатков, А. П. Чупахин |
| |
| № 11 (2017) |
Оценка размеров наночастиц в многокомпонентных коллоидных системах методом динамического рассеяния света |
Аннотация
|
|
А. Д. Левин, А. Ю. Садагов, В. А. Щелконогов, А. М. Синебрюхова |
| |
| № 6 (2017) |
Тепловое воздействие электронного зонда при рентгеноспектральном наноанализе |
Подробности
|
|
А. Н. Амрастанов, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, Е. В. Серегина, М. А. Степович, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов |
| |
| № 7 (2017) |
Резистивные газовые сенсоры с повышенной чувствительностью к спиртам на основе нанокристаллических плёнок окислов олова с аддитивами тербия и сурьмы |
Аннотация
|
|
А. М. Гуляев, О. Б. Сарач, В. . А Котов, А. А. Ванин, Ю. В. Ануфриев, А. В. Коновалов |
| |
| № 11 (2013) |
Эллипсометрический способ оценки неоднородности толщины тонкопленочных покрытий |
Аннотация
PDF (Rus)
|
|
А. С. Батурин, В. С. Бормашов, В. П. Гавриленко, А. В. Заблоцкий, С. А. Зайцев, А. Ю. Кузин, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов |
| |
| № 8 (2012) |
Проблемы измерений размеров в микроэлектронной технологии |
Аннотация
PDF (Rus)
|
|
А. В. Никитин |
| |
| 1 - 43 из 43 результатов |
|
