Сортировать по:
Выпуск | Название | |
№ 10 (2016) | Тепловые эффекты при низковольтном электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе с нанометровой локальностью | Аннотация похожие документы |
А. Ю. Кузин, М. А. Степович, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
№ 11 (2016) | Изменение химического состава анализируемого объекта при низковольтном электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе | Аннотация похожие документы |
А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
"... низковольтном электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе. Изменения обусловлены термическим ..." | ||
№ 9 (2015) | Измерения толщины оксидной пленки на поверхности кремния электронно-зондовым методом | Аннотация похожие документы |
В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, М. А. Степович, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
"... Предложен электронно-зондовый способ измерений толщины оксидной пленки на поверхности кремния. Дана ..." | ||
№ 8 (2016) | Измерение неоднородности толщины наноплёнок электронно-зондовым методом | Аннотация похожие документы |
С. А. Дарзнек, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, М. А. Степович, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
"... Предложен электронно-зондовый способ измерений неоднородности толщины наноплёнок, основанный на ..." | ||
№ 8 (2012) | Выбор оптимальных параметров электронного зонда растрового электронного микроскопапри измерении геометрических параметров объектов методом дефокусировки зонда | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
В. В. Альзоба, А. Ю. Кузин, Ю. В. Ларионов, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
"... дефокусировки электронного зонда растрового электронного микроскопа, обусловленной зависимостью результата ..." | ||
№ 3 (2017) | Измерение высоты элементов нанорельефа поверхности методом трёхмерной реконструкции в растровом электронном микроскопе | Аннотация похожие документы |
С. А. Дарзнек, Д. А. Карабанов, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
"... методами трёхмерной реконструкции с помощью растрового электронного микроскопа и профилометрии. Для ..." | ||
№ 3 (2016) | Анализ факторов, влияющих на погрешность трёхмерной реконструкции поверхности объектов с субмикрометровым рельефом, по полученным в растровом электронном микроскопе стереоизображениям | Аннотация похожие документы |
А. Ю. Кузин, А. Л. Васильев, В. Б. Митюхляев, А. А. Михуткин, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
№ 12 (2016) | Калибровка растровых электронных микроскопов в широком диапазоне увеличений | Аннотация похожие документы |
Р. В. Киртаев, А. Ю. Кузин, В. Г. Маслов, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
"... Предложен новый метод калибровки растровых электронных микроскопов в диапазоне увеличений 10-50000 ..." | ||
№ 3 (2015) | Трехмерная реконструкция поверхностей рельефных структур по стереоизображениям, полученным в растровом электронном микроскопе | Аннотация похожие документы |
В. П. Гавриленко, Д. А. Карабанов, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. А. Михуткин, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов, Т. Н. Баймухаметов, А. Л. Васильев | ||
"... микроскопе, восстановлен профиль поверхности двух образцов из монокристаллического кремния, содержащих ..." | ||
№ 10 (2012) | Стандартный образец для калибровки просвечивающих электронных микроскопов | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
Д. С. Бодунов, В. П. Гавриленко, А. В. Заблоцкий, А. А. Кузин, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов | ||
"... монокристаллического кремния ГСО 10030–2011, предназначенного для калибровки просвечивающих электронных микроскопов в ..." | ||
№ 3 (2013) | Искажение профиля рельефных элементов на поверхности монокристаллического кремния в результате их контаминации в низковольтном растровом электронном микроскопе | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов, В. А. Шаронов | ||
"... Представлены результаты исследований влияния контаминации в раствором электронном микроскопе S-4800 ..." | ||
1 - 11 из 11 результатов |
Советы по поиску:
- Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
- Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
- По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
- Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
- Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
- Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
- Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
- Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)