Preview

Измерительная техника

Расширенный поиск

Поиск


Сортировать по:     
 
Выпуск Название
 
№ 10 (2016) Тепловые эффекты при низковольтном электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе с нанометровой локальностью Аннотация  похожие документы
А. Ю. Кузин, М. А. Степович, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов
 
№ 11 (2016) Изменение химического состава анализируемого объекта при низковольтном электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе Аннотация  похожие документы
А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов
"... низковольтном электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе. Изменения обусловлены термическим ..."
 
№ 9 (2015) Измерения толщины оксидной пленки на поверхности кремния электронно-зондовым методом Аннотация  похожие документы
В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, М. А. Степович, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов
"... Предложен электронно-зондовый способ измерений толщины оксидной пленки на поверхности кремния. Дана ..."
 
№ 8 (2016) Измерение неоднородности толщины наноплёнок электронно-зондовым методом Аннотация  похожие документы
С. А. Дарзнек, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, М. А. Степович, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов
"... Предложен электронно-зондовый способ измерений неоднородности толщины наноплёнок, основанный на ..."
 
№ 8 (2012) Выбор оптимальных параметров электронного зонда растрового электронного микроскопапри измерении геометрических параметров объектов методом дефокусировки зонда Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
В. В. Альзоба, А. Ю. Кузин, Ю. В. Ларионов, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов
"... дефокусировки электронного зонда растрового электронного микроскопа, обусловленной зависимостью результата ..."
 
№ 3 (2017) Измерение высоты элементов нанорельефа поверхности методом трёхмерной реконструкции в растровом электронном микроскопе Аннотация  похожие документы
С. А. Дарзнек, Д. А. Карабанов, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов
"... методами трёхмерной реконструкции с помощью растрового электронного микроскопа и профилометрии. Для ..."
 
№ 3 (2016) Анализ факторов, влияющих на погрешность трёхмерной реконструкции поверхности объектов с субмикрометровым рельефом, по полученным в растровом электронном микроскопе стереоизображениям Аннотация  похожие документы
А. Ю. Кузин, А. Л. Васильев, В. Б. Митюхляев, А. А. Михуткин, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов
 
№ 12 (2016) Калибровка растровых электронных микроскопов в широком диапазоне увеличений Аннотация  похожие документы
Р. В. Киртаев, А. Ю. Кузин, В. Г. Маслов, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов
"... Предложен новый метод калибровки растровых электронных микроскопов в диапазоне увеличений 10-50000 ..."
 
№ 3 (2015) Трехмерная реконструкция поверхностей рельефных структур по стереоизображениям, полученным в растровом электронном микроскопе Аннотация  похожие документы
В. П. Гавриленко, Д. А. Карабанов, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. А. Михуткин, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов, Т. Н. Баймухаметов, А. Л. Васильев
"... микроскопе, восстановлен профиль поверхности двух образцов из монокристаллического кремния, содержащих ..."
 
№ 10 (2012) Стандартный образец для калибровки просвечивающих электронных микроскопов Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Д. С. Бодунов, В. П. Гавриленко, А. В. Заблоцкий, А. А. Кузин, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов
"... монокристаллического кремния ГСО 10030–2011, предназначенного для калибровки просвечивающих электронных микроскопов в ..."
 
№ 3 (2013) Искажение профиля рельефных элементов на поверхности монокристаллического кремния в результате их контаминации в низковольтном растровом электронном микроскопе Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов, В. А. Шаронов
"... Представлены результаты исследований влияния контаминации в раствором электронном микроскопе S-4800 ..."
 
1 - 11 из 11 результатов

Советы по поиску:

  • Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
  • Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
  • По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
  • Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
  • Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
  • Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)