Preview

Измерительная техника

Расширенный поиск

Поиск


Сортировать по:     
 
Выпуск Название
 
№ 9 (2015) Измерения толщины оксидной пленки на поверхности кремния электронно-зондовым методом Аннотация  похожие документы
В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, М. А. Степович, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов
"... The electron probe X-ray microanalysis method of measuring the thickness of oxide layer on silicon ..."
 
№ 10 (2016) Тепловые эффекты при низковольтном электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе с нанометровой локальностью Аннотация  похожие документы
А. Ю. Кузин, М. А. Степович, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов
"... Evaluation is made of thermal influence of the electron probe in the low-voltage x-ray nanoanalysis ..."
 
№ 11 (2016) Изменение химического состава анализируемого объекта при низковольтном электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе Аннотация  похожие документы
А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов
"... microvolume at low-voltage electron probe X-ray microanalysis. The changes are caused by thermal effect ..."
 
№ 8 (2016) Измерение неоднородности толщины наноплёнок электронно-зондовым методом Аннотация  похожие документы
С. А. Дарзнек, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, М. А. Степович, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов
"... on the dependence of the ratio of intensities of characteristic x-rays of the elements included in the film from its ..."
 
№ 4 (2013) Стандартные образцы наночастиц Au и ZnO для калибровки малоугловых рентгеновских дифрактометров Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
М. А. Запорожец, В. В. Волков, С. Н. Сульянов, Е. Г. Рустамова, С. П. Губин, В. Б. Митюхляев, А. Ю. Кузин, П. А. Тодуа, А. С. Авилов
"... The certified reference materials (CRM) based on Au nanoparticles and ZnO for small-angle X-ray ..."
 
№ 9 (2013) Разработка стандартных образцов и методов калибровки малоугловых рентгеновских дифрактометров для сертификации и стандартизации продукции наноиндустрии Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. С. Авилов, А. С. Батурин, В. В. Волков, Ю. А. Дьякова, М. А. Ермакова, А. Ю. Кузин, М. А. Марченкова, В. Б. Митюхляев, А. Ю. Серегин, С. Н. Сульянов, Е. Ю. Терещенко, П. А. Тодуа
"... films on the quartz substrate for calibration of small-angle X-ray diffractometers used ..."
 
1 - 6 из 6 результатов

Советы по поиску:

  • Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
  • Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
  • По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
  • Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
  • Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
  • Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)