Нанометрология и особенности метрологического обеспечения измерений параметров шероховатости и рельефа наноструктурированных поверхностей
Abstract
About the Authors
В. ЛысенкоRussian Federation
В. Соловьев
Russian Federation
П. Лускинович
Russian Federation
С. Золотаревский
Russian Federation
К. Губский
Russian Federation
References
1. Галлямов М. О., Яминский И. В., Сканирующая зондовая микроскопия: основные принципы, анализ искажающих факторов [электрон. ресурс]. http:// www.spm.genebee.msu.su/members/gallyamov/gal_yam/gal_yam1.htm (дата обращения 01.07.2010).
2. Исаакян В. А. Микроскопия вчера, сегодня, завтра [электрон. ресурс]. http://www.keral.ru (дата обращения 01.07.2010).
3. Whitehouse D. J. Handbook of surface metrology. England: RTH, University of Warwick.
4. Гоголинский К. В. и др. Разработка метрологического комплекса для обеспечения единства измерений свойств поверхности в нанометровом диапазоне на базе сканирующего зондового микроскопа «НаноСкан-3D» // Законодательная и прикладная метрология. 2010. № 1 (107). С. 33-34.
5. Пат. 96429 РФ / К. Г. Гоголинский и др. Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с оптической системой линейных измерений // Изобретия. Полезные модели. 2010. № 21.
6. Meine K. Correlation of Frictoin and Roughness // X Intern. Colloq. on surfaces. Chemnitz (Germany), 2000.
Review
For citations:
, , , , . Izmeritel`naya Tekhnika. 2010;(11):17-21. (In Russ.)