Для цитирования:
Заблоцкий А.В., Кузин А.Ю., Михеев Н.Н., Степович М.А., Тодуа П.А., Широкова Е.В., Филиппов М.Н. Учет матричных эффектов при измерениях методом рентгеноспектрального микроанализа. Измерительная техника. 2013;(7):58-61.
Просмотров PDF (Rus): 95
JATS XML
Послать статью по эл. почте 