Preview

Войти

Регистрация нового пользователя Забыли Ваш пароль?

Измерительная техника

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:

Заблоцкий А.В., Кузин А.Ю., Михеев Н.Н., Степович М.А., Тодуа П.А., Широкова Е.В., Филиппов М.Н. Учет матричных эффектов при измерениях методом рентгеноспектрального микроанализа. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2013;(7):58-61.



Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 0368-1025 (Print)
ISSN 2949-5237 (Online)

141570, Московская обл., Солнечногорский р-н, п/о Менделеево, ФГУП "ВНИИФТРИ", редакция журнала "Измерительная техника".
тел.: 8(495)781-48-70
e-mail: izmt@yandex.ru

Обработка персональных данных
создано и поддерживается NEICON
(лаборатория Elpub)