

Идентификация наночастиц и измерение их концентрации в тонких пленках наноструктурированных полимеров
Abstract
About the Authors
А. УшаковRussian Federation
М. Баршутина
Russian Federation
С. Баршутин
Russian Federation
References
1. Платенкин А. В., Баршутин С. Н., Шелохвостов В. П. Метод определения наноструктурных объектов в дисперсных материалах // Вестник Тамб. гос. техн. ун-та. 2011. № 36. С. 63-70.
2. Баршутин С. Н., Головлев С. В. Исследование тонких модифицированных пленок нитроцеллюлозы в спиртовых растворах оксида марганца. // Молодой ученый. 2012. №10(45).С. 33-38.
3. Davies J. H. The physics of low-dimensional semiconductors: an introduction. UK.: Cambridge University Press, 1998.
4. Hyungmo Yoo. Effect of Structural Parameters on Resonant Tunneling Diode Performance. USA, 1991.
Review
For citations:
, , . Izmeritel`naya Tekhnika. 2014;(9):16-19. (In Russ.)