<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-958</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>НАНОМЕТРОЛОГИЯ</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Идентификация наночастиц и измерение их концентрации в тонких пленках наноструктурированных полимеров</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ушаков</surname><given-names>А. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Баршутина</surname><given-names>М. Н.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">marshall27@yandex.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Баршутин</surname><given-names>С. Н.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Тамбовский государственный технический университет</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2014</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>9</issue><fpage>16</fpage><lpage>19</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/958">https://www.izmt.ru/jour/article/view/958</self-uri><abstract><p>Представлен низкотемпературный туннельно-резонансный метод, позволяющий определять вид и концентрацию наночастиц различной природы размером 2-10 нм в тонких пленках полимеров. Проведена экспериментальная оценка точности, чувствительности, стоимости и ограничений данного метода. Показана его практическая ценность при использовании в различных отраслях промышленности и в лабораторных условиях.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The low-temperature resonant tunneling method allowing to detect the nature and concentration of nanoparticles (2-10 μm) contained in thin films of polymers - is presented. This method allows to measure the concentrations from 0,01 to 30% and can be used in a wide range of applications in electronics, electrical engineering, environmental and chemical industries for process monitoring and quality control of products. The main advantages of this present method are the high accuracy, the low cost of realization and the high sensitivity at low concentrations of nanoparticles.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>концентрация наночастиц</kwd><kwd>резонансное туннелирование</kwd><kwd>квантовый энергетические уровень</kwd><kwd>низкотемпературный феномен</kwd><kwd>тонкопленочные гетероструктуры</kwd><kwd>nanoparticles concentration</kwd><kwd>resonant tunneling phenomenon</kwd><kwd>quantum energy levels</kwd><kwd>low-temperature phenomenon</kwd><kwd>thin-film heterostructures</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Платенкин А. В., Баршутин С. Н., Шелохвостов В. П. Метод определения наноструктурных объектов в дисперсных материалах // Вестник Тамб. гос. техн. ун-та. 2011. № 36. С. 63-70.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Платенкин А. В., Баршутин С. Н., Шелохвостов В. П. Метод определения наноструктурных объектов в дисперсных материалах // Вестник Тамб. гос. техн. ун-та. 2011. № 36. С. 63-70.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Баршутин С. Н., Головлев С. В. Исследование тонких модифицированных пленок нитроцеллюлозы в спиртовых растворах оксида марганца. // Молодой ученый. 2012. №10(45).С. 33-38.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Баршутин С. Н., Головлев С. В. Исследование тонких модифицированных пленок нитроцеллюлозы в спиртовых растворах оксида марганца. // Молодой ученый. 2012. №10(45).С. 33-38.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Davies J. H. The physics of low-dimensional semiconductors: an introduction. UK.: Cambridge University Press, 1998.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Davies J. H. The physics of low-dimensional semiconductors: an introduction. UK.: Cambridge University Press, 1998.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Hyungmo Yoo. Effect of Structural Parameters on Resonant Tunneling Diode Performance. USA, 1991.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Hyungmo Yoo. Effect of Structural Parameters on Resonant Tunneling Diode Performance. USA, 1991.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
