сгенерировать QR код
Открытый доступ
Только для подписчиков
Идентификация наночастиц и измерение их концентрации в тонких пленках наноструктурированных полимеров
Аннотация
Представлен низкотемпературный туннельно-резонансный метод, позволяющий определять вид и концентрацию наночастиц различной природы размером 2-10 нм в тонких пленках полимеров. Проведена экспериментальная оценка точности, чувствительности, стоимости и ограничений данного метода. Показана его практическая ценность при использовании в различных отраслях промышленности и в лабораторных условиях.
Об авторах
А. В. Ушаков
Тамбовский государственный технический университет
Россия
Россия
М. Н. Баршутина
Тамбовский государственный технический университет
Россия
Россия
С. Н. Баршутин
Тамбовский государственный технический университет
Россия
Россия
Список литературы
1. Платенкин А. В., Баршутин С. Н., Шелохвостов В. П. Метод определения наноструктурных объектов в дисперсных материалах // Вестник Тамб. гос. техн. ун-та. 2011. № 36. С. 63-70.
2. Баршутин С. Н., Головлев С. В. Исследование тонких модифицированных пленок нитроцеллюлозы в спиртовых растворах оксида марганца. // Молодой ученый. 2012. №10(45).С. 33-38.
3. Davies J. H. The physics of low-dimensional semiconductors: an introduction. UK.: Cambridge University Press, 1998.
4. Hyungmo Yoo. Effect of Structural Parameters on Resonant Tunneling Diode Performance. USA, 1991.
Рецензия
Для цитирования:
Ушаков А.В., Баршутина М.Н., Баршутин С.Н. Идентификация наночастиц и измерение их концентрации в тонких пленках наноструктурированных полимеров. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2014;(9):16-19.
Просмотров:
90
Послать статью по эл. почте 