Generate QR code
Open Access
Subscription Access
Применение структурированного света для фотограмметрического метода измерений поверхностей сложной формы
Abstract
The technologies of identification of conjugated dots on the images using the structured light have been studies. The influence of the main error sources on the information-measuring system operation have been assessed.
About the Authors
С. Конов
Московский государственный технологический университет «СТАНКИН»
Russian Federation
Russian Federation
А. Хохоликов
Московский государственный технологический университет «СТАНКИН»
Russian Federation
Russian Federation
А. Гололобова
Московский государственный технологический университет «СТАНКИН»
Russian Federation
Russian Federation
References
1. Григорьев С. Н., Конов С. Г. Развитие пространственной метрологии для обеспечения контроля сложных поверхностей в машиностроении // Контроль. Диагностика. 2012. № 12. С. 9-13.
2. Телешевский В. И., Жирнов И. В., Дубенская М. А., Конов С. Г. Бесконтактное измерение температуры на поверхности материала INOX 304 L в зоне лазерного воздействия // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2013. № 4 (27). С. 61-64.
3. Марков Б. Н., Конов С. Г., Логинов А. А. Калибровка камер фотограмметрических измерительных систем с использованием генетического алгоритма поиска решения // Измерительная техника. 2012. № 5. С. 44-46.
4. Конов С. Г., Гололобова А. А. Калибровка камер фотограмметрических измерительных систем на базе метода наименьших квадратов // Метрология. 2014. № 5. С. 15-20.
5. Конов С. Г., Логинов А. А., Крутов А. В. Система слежения за пространственными перемещениями подвижных узлов станков и робототехники // Измерительная техника. 2012. № 2. С. 10-12.
6. Конов С. Г., Крутов А. В. Разработка системы слежения за пространственными перемещениями объектов на базе технологии фотограмметрии // Метрология. 2013. № 12. С. 10-15.
7. Телешевский В. И., Шулепов А. В., Роздина Е. М. Повышение точности измерений линейно-угловых размеров изделий в интеллектуальной компьютерной микроскопии // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2011. № 4. С. 35-38.
8. Телешевский В. И., Шулепов А. В., Есин А. П. Методы повышения точности линейных измерений на измерительных микроскопах с помощью цифровой обработки оптических изображений // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2009. № 1. С. 102-107.
9. Телешевский В. И., Глубоков А. В. Компьютеризированная измерительная информационная система для контроля отклонений от плоскостности на базе электронных уровней // Измерительная техника. 2004. № 11. С. 15-18.
Review
For citations:
, , . Izmeritel`naya Tekhnika. 2015;(7):21-23. (In Russ.)
Views:
103
Email this article 