izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-95Research ArticleК ЮБИЛЕЮ ИНСТИТУТАПрименение структурированного света для фотограмметрического метода измерений поверхностей сложной формыКоновС. Г.public32@gmail.comХохоликовА. А.noemail@neicon.ruГололобоваА. А.noemail@neicon.ruМосковский государственный технологический университет «СТАНКИН»Russian Federation201507022023072123Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/95

Исследованы технологии идентификации сопряженных пар точек на изображениях путем применения структурированного света. Оценено влияние основных источников погрешности на работу фотограмметрической информационно-измерительной системы.

The technologies of identification of conjugated dots on the images using the structured light have been studies. The influence of the main error sources on the information-measuring system operation have been assessed.

фотограмметрияпространственная измерительная системаструктурированный светсопряженные точкиповерхности сложной формыphotogrammetrythree-dimensional measuring systemstructured lightconjugated dotsReferencesГригорьев С. Н., Конов С. Г. Развитие пространственной метрологии для обеспечения контроля сложных поверхностей в машиностроении // Контроль. Диагностика. 2012. № 12. С. 9-13.Григорьев С. Н., Конов С. Г. Развитие пространственной метрологии для обеспечения контроля сложных поверхностей в машиностроении // Контроль. Диагностика. 2012. № 12. С. 9-13.Телешевский В. И., Жирнов И. В., Дубенская М. А., Конов С. Г. Бесконтактное измерение температуры на поверхности материала INOX 304 L в зоне лазерного воздействия // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2013. № 4 (27). С. 61-64.Телешевский В. И., Жирнов И. В., Дубенская М. А., Конов С. Г. Бесконтактное измерение температуры на поверхности материала INOX 304 L в зоне лазерного воздействия // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2013. № 4 (27). С. 61-64.Марков Б. Н., Конов С. Г., Логинов А. А. Калибровка камер фотограмметрических измерительных систем с использованием генетического алгоритма поиска решения // Измерительная техника. 2012. № 5. С. 44-46.Марков Б. Н., Конов С. Г., Логинов А. А. Калибровка камер фотограмметрических измерительных систем с использованием генетического алгоритма поиска решения // Измерительная техника. 2012. № 5. С. 44-46.Конов С. Г., Гололобова А. А. Калибровка камер фотограмметрических измерительных систем на базе метода наименьших квадратов // Метрология. 2014. № 5. С. 15-20.Конов С. Г., Гололобова А. А. Калибровка камер фотограмметрических измерительных систем на базе метода наименьших квадратов // Метрология. 2014. № 5. С. 15-20.Конов С. Г., Логинов А. А., Крутов А. В. Система слежения за пространственными перемещениями подвижных узлов станков и робототехники // Измерительная техника. 2012. № 2. С. 10-12.Конов С. Г., Логинов А. А., Крутов А. В. Система слежения за пространственными перемещениями подвижных узлов станков и робототехники // Измерительная техника. 2012. № 2. С. 10-12.Конов С. Г., Крутов А. В. Разработка системы слежения за пространственными перемещениями объектов на базе технологии фотограмметрии // Метрология. 2013. № 12. С. 10-15.Конов С. Г., Крутов А. В. Разработка системы слежения за пространственными перемещениями объектов на базе технологии фотограмметрии // Метрология. 2013. № 12. С. 10-15.Телешевский В. И., Шулепов А. В., Роздина Е. М. Повышение точности измерений линейно-угловых размеров изделий в интеллектуальной компьютерной микроскопии // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2011. № 4. С. 35-38.Телешевский В. И., Шулепов А. В., Роздина Е. М. Повышение точности измерений линейно-угловых размеров изделий в интеллектуальной компьютерной микроскопии // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2011. № 4. С. 35-38.Телешевский В. И., Шулепов А. В., Есин А. П. Методы повышения точности линейных измерений на измерительных микроскопах с помощью цифровой обработки оптических изображений // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2009. № 1. С. 102-107.Телешевский В. И., Шулепов А. В., Есин А. П. Методы повышения точности линейных измерений на измерительных микроскопах с помощью цифровой обработки оптических изображений // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2009. № 1. С. 102-107.Телешевский В. И., Глубоков А. В. Компьютеризированная измерительная информационная система для контроля отклонений от плоскостности на базе электронных уровней // Измерительная техника. 2004. № 11. С. 15-18.Телешевский В. И., Глубоков А. В. Компьютеризированная измерительная информационная система для контроля отклонений от плоскостности на базе электронных уровней // Измерительная техника. 2004. № 11. С. 15-18.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.