|сгенерировать QR код
Открытый доступ
Только для подписчиков
Применение структурированного света для фотограмметрического метода измерений поверхностей сложной формы
Аннотация
Исследованы технологии идентификации сопряженных пар точек на изображениях путем применения структурированного света. Оценено влияние основных источников погрешности на работу фотограмметрической информационно-измерительной системы.
Об авторах
С. Г. Конов
Московский государственный технологический университет «СТАНКИН»
Россия
Россия
А. А. Хохоликов
Московский государственный технологический университет «СТАНКИН»
Россия
Россия
А. А. Гололобова
Московский государственный технологический университет «СТАНКИН»
Россия
Россия
Список литературы
1. Григорьев С. Н., Конов С. Г. Развитие пространственной метрологии для обеспечения контроля сложных поверхностей в машиностроении // Контроль. Диагностика. 2012. № 12. С. 9-13.
2. Телешевский В. И., Жирнов И. В., Дубенская М. А., Конов С. Г. Бесконтактное измерение температуры на поверхности материала INOX 304 L в зоне лазерного воздействия // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2013. № 4 (27). С. 61-64.
3. Марков Б. Н., Конов С. Г., Логинов А. А. Калибровка камер фотограмметрических измерительных систем с использованием генетического алгоритма поиска решения // Измерительная техника. 2012. № 5. С. 44-46.
4. Конов С. Г., Гололобова А. А. Калибровка камер фотограмметрических измерительных систем на базе метода наименьших квадратов // Метрология. 2014. № 5. С. 15-20.
5. Конов С. Г., Логинов А. А., Крутов А. В. Система слежения за пространственными перемещениями подвижных узлов станков и робототехники // Измерительная техника. 2012. № 2. С. 10-12.
6. Конов С. Г., Крутов А. В. Разработка системы слежения за пространственными перемещениями объектов на базе технологии фотограмметрии // Метрология. 2013. № 12. С. 10-15.
7. Телешевский В. И., Шулепов А. В., Роздина Е. М. Повышение точности измерений линейно-угловых размеров изделий в интеллектуальной компьютерной микроскопии // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2011. № 4. С. 35-38.
8. Телешевский В. И., Шулепов А. В., Есин А. П. Методы повышения точности линейных измерений на измерительных микроскопах с помощью цифровой обработки оптических изображений // Вестник МГТУ «СТАНКИН». 2009. № 1. С. 102-107.
9. Телешевский В. И., Глубоков А. В. Компьютеризированная измерительная информационная система для контроля отклонений от плоскостности на базе электронных уровней // Измерительная техника. 2004. № 11. С. 15-18.
Рецензия
Для цитирования:
Конов С.Г., Хохоликов А.А., Гололобова А.А. Применение структурированного света для фотограмметрического метода измерений поверхностей сложной формы. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2015;(7):21-23.
Просмотров:
93
Послать статью по эл. почте 