Preview

Измерительная техника

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Лысенко В.Г., Соловьев В.В., Лускинович П.Н., Золотаревский С.Ю., Губский К.Л. Нанометрология и особенности метрологического обеспечения измерений параметров шероховатости и рельефа наноструктурированных поверхностей. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2010;(11):17-21.



Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 0368-1025 (Print)
ISSN 2949-5237 (Online)