|сгенерировать QR код
Открытый доступ
Только для подписчиков
Адаптивные алгоритмы измерения параметров низкочастотного шума полупроводниковых приборов в условиях массового контроля
https://doi.org/10.32446/0368-1025it.2020-11-59-64
Аннотация
Рассмотрено решение задачи повышения достоверности и эффективности контроля качества полупроводниковых приборов. Представлен анализ условий измерения спектральной плотности мощности низкочастотного шума полупроводниковых приборов со спектром вида G(f)~f-γ(γ – показатель формы спектра) в условиях массового контроля качества. Погрешность измерения спектральной плотности мощности при заданных условиях измерения сильно зависит от значения показателя формы спектра. Предложены адаптивные алгоритмы измерения параметров низкочастотного шума для случаев заданной предельной погрешности измерения спектральной плотности мощности и заданного времени единичного измерения. Предложенные алгоритмы включают в себя предварительную оценку значения показателя формы спектра и последующее измерение спектральной плотности мощности шума при оптимальной полосе пропускания фильтра. Оптимальная полоса пропускания фильтра устанавливается по результатам предварительной оценки показателя формы спектра. Для обоих случаев получены оценки выигрыша в смысле среднего по совокупности (ансамблю) контролируемых изделий. Рассмотрена возможность адаптивной или когнитивной подстройки параметров измерительной системы в процессе контроля по результатам оценки выборочных средних на обучающей выборке.
Об авторах
В. А. Сергеев
Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова
Российской академии наук;
Ульяновский государственный технический университет
Россия
Россия
Ульяновск
С. Е. Резчиков
Ульяновский государственный технический университет;
АО «Ульяновский механический завод»
Россия
Россия
Ульяновск
Список литературы
1. Букингем М. Шумы в электронных приборах и системах: Пер. с англ. М.: Мир,1986. 256 c.
2. Жигальский Г. П. Неразрушающий контроль качества интегральных микросхем по электрическим шумам и параметрам нелинейности // Радиотехника и электроника. 2005. № 5. С. 517–551.
3. Rocha P. R. F., Vandamme L. K. J., Meskers S. C. J., Gomes H. L., D. M. De Leeuw, and P. van de Weijer, Low-frequency noise as a diagnostic tool for OLED reliability, 22nd International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF), Montpellier, 2013, pp. 1–4. https://doi.org/10.1109/ICNF.2013.6578947
4. Горлов М. И., Смирнов Д. Ю., Ануфриев Д. Л. Классификация надежности интегральных схем с использованием показателя формы спектра γ // Известия вузов. Электроника. 2006. № 5. С. 78–82.
5. Горлов М. И., Сергеев В. А. Современные диагностические методы контроля качества и надёжности полупроводниковых изделий. Ульяновск: УлГТУ, 2020. 470 с.
6. Горлов М. И., Смирнов Д. Ю., Ануфриев Д. Л. Измерение шумовых параметров полупроводниковых изделий // Измерительная техника. 2006. № 12. С. 46–49.
7. Мирский Г. Я. Погрешности измерения корреляционных функций случайных процессов с различными распределениями вероятностей // Измерительная техника. 1979. № 8. С. 17–20.
8. Мирский Г. Я. Электронные измерения: 4-е изд., перераб. и доп. М.: Радио и связь, 1986. 440 с.
9. Сергеев В. А., Дулов О. А. Методические погрешности измерения параметров НЧ-шума со спектром вида 1/f γ // Измерительная техника. 2008. № 10. С. 51–53.
10. Сергеев В. А., Резчиков С. Е. Методическая погрешность измерения показателя степени частотной зависимости спектра низкочастотного шума // Измерительная техника. 2015. № 10. С. 55–59.
11. Сергеев В. А., Резчиков С. Е. Оптимизация процедур измерения параметров низкочастотного шума со спектром вида 1/f γ // Автоматизация процессов измерения. 2016. № 4. С. 101–107.
12. Сергеев В. А., Резчиков С. Е. Адаптивные алгоритмы измерения параметров низкочастотного шума полупроводниковых приборов // Журнал радиоэлектроники (электронный журнал). 2019. № 11. https://doi.org/10.30898/1684-1719.2019.11.3
13. Кожевников В. В., Леонтьев М. Ю., Приходько В. В. и др. Прогнозирование решений на основе математической модели когнитивных цифровых автоматов // Учёные записки УлГУ. Серия: Математика и информационные технологии. 2019. № 1. С. 52–64
Рецензия
Для цитирования:
Сергеев В.А., Резчиков С.Е. Адаптивные алгоритмы измерения параметров низкочастотного шума полупроводниковых приборов в условиях массового контроля. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2020;(11):59-64. https://doi.org/10.32446/0368-1025it.2020-11-59-64
For citation:
Sergeev V.A., Reschikof S.Е. Adaptive algorithms for measuring low-frequency noise parameters of semiconductor devices under mass control. Izmeritel`naya Tekhnika. 2020;(11):59-64. (In Russ.) https://doi.org/10.32446/0368-1025it.2020-11-59-64
Просмотров:
107
Послать статью по эл. почте 