Для цитирования:

Сергеев В.А., Резчиков С.Е. Адаптивные алгоритмы измерения параметров низкочастотного шума полупроводниковых приборов в условиях массового контроля. Измерительная техника. 2020;(11):59-64. https://doi.org/10.32446/0368-1025it.2020-11-59-64

For citation:

Sergeev V.A., Reschikof S.Е. Adaptive algorithms for measuring low-frequency noise parameters of semiconductor devices under mass control. Izmeritel`naya Tekhnika. 2020;(11):59-64. (In Russ.) https://doi.org/10.32446/0368-1025it.2020-11-59-64