Методы калибровки эталонных плазменных излучателей с использованием электронного синхротрона с сильным магнитным полем
Abstract
Keywords
About the Authors
С. АневскийRussian Federation
Ю. Золотаревский
Russian Federation
В. Иванов
Russian Federation
В. Крутиков
Russian Federation
О. Минаева
Russian Federation
Р. Минаев
Russian Federation
Д. Лашков
Russian Federation
Д. Сенин
Russian Federation
References
1. Richter M. e. a. Metrology of pulsed radiation for 157-nm lithography // Appl. Opt. 2002. V. 41. P. 7167–7172.
2. Banine V. e. a. The relationship between EUV source and the performance of an EUV lithographic system // Proc. SPIE. 2000. V. 3997. P. 126–135.
3. Золотаревский В. С. и др. Использование синхротронного излучения для исследования многослойных наноструктур // Измерительная техника. 2010. № 7. C. 32–35;
4. Zolotarevskii Yu. M. e. a. Use of synchrotron radiation for studying multilayer nanostructures // Measurement Techniques. 2010. V. 53. N 7. P. 772–777.
5. Beckhoff B. e. a. High-accuracy EUV metrology of PTB using synchrotron radiation // Proc. SPIE. 2001. N 4344. P. 402–413.
6. Scholze F., Tummler J., Ulm G. High-accuracy radiometry in the EUV range at the PTB soft x-ray radiometry beamline // Metrologia. 2003. N 40. P. S224–S228.
7. Brandt G. e. a. High-accuracy detector calibration for EUV metrology at PTB // Proc. SPIE. 2002. N 4688. P. 680–689.
8. Аневский С. И. и др. Спектрорадиометрия оптического излучения. Энциклопедия низкотемпературной плазмы. М.: Наука, 2000. Т. 2. С. 532 –533.
9. Аневский С. И. Исследование характеристик синхротронного излучения первичного и вторичных эталонных источников в режиме большого электронного сгустка // Метрология. 2002. № 1. C. 20–30.
10. Аневский С. И. Эталонные источники синхротронного излучения // Метрология. 2001. № 12. C. 15–30.
11. Аневский С. И. и др. Разработка и исследование измерительного комплекса энергетической яркости в области вакуумного и ближнего ультрафиолета на основе ПЗС-матриц // Измерительная техника. 2010. № 7. C. 26–31;
12. Anevsky S. I. e. a. Development and study of a radiance measurement system based on a CCD array in the vacuum and near ultraviolet region // Measurement Techniques. 2010. V. 53. N 7. P. 764–771.
Review
For citations:
, , , , , , , . Izmeritel`naya Tekhnika. 2012;(8):31-34. (In Russ.)