Preview

Izmeritel`naya Tekhnika

Advanced search

Методы калибровки эталонных плазменных излучателей с использованием электронного синхротрона с сильным магнитным полем

Abstract

The methods of calibration of secondary standard plasma sources based on the use of synchrotron with strong magnetic field allowing to solve the problems of vacuum coupling of the accelerator and plasma source chambers and the problem of taking into account the degree of synchrotron radiation polarization were developed. The comparison of the storage ring and the electron synchrotron characteristics of radiation in the visible range using the telescope and the cooled CCD matrix ensures the absolutization of the relative synchrotron spectrum.

About the Authors

С. Аневский
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, Москва
Russian Federation


Ю. Золотаревский
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, Москва
Russian Federation


В. Иванов
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, Москва
Russian Federation


В. Крутиков
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, Москва
Russian Federation


О. Минаева
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, Москва
Russian Federation


Р. Минаев
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, Москва
Russian Federation


Д. Лашков
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, Москва
Russian Federation


Д. Сенин
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, Москва
Russian Federation


References

1. Richter M. e. a. Metrology of pulsed radiation for 157-nm lithography // Appl. Opt. 2002. V. 41. P. 7167–7172.

2. Banine V. e. a. The relationship between EUV source and the performance of an EUV lithographic system // Proc. SPIE. 2000. V. 3997. P. 126–135.

3. Золотаревский В. С. и др. Использование синхротронного излучения для исследования многослойных наноструктур // Измерительная техника. 2010. № 7. C. 32–35;

4. Zolotarevskii Yu. M. e. a. Use of synchrotron radiation for studying multilayer nanostructures // Measurement Techniques. 2010. V. 53. N 7. P. 772–777.

5. Beckhoff B. e. a. High-accuracy EUV metrology of PTB using synchrotron radiation // Proc. SPIE. 2001. N 4344. P. 402–413.

6. Scholze F., Tummler J., Ulm G. High-accuracy radiometry in the EUV range at the PTB soft x-ray radiometry beamline // Metrologia. 2003. N 40. P. S224–S228.

7. Brandt G. e. a. High-accuracy detector calibration for EUV metrology at PTB // Proc. SPIE. 2002. N 4688. P. 680–689.

8. Аневский С. И. и др. Спектрорадиометрия оптического излучения. Энциклопедия низкотемпературной плазмы. М.: Наука, 2000. Т. 2. С. 532 –533.

9. Аневский С. И. Исследование характеристик синхротронного излучения первичного и вторичных эталонных источников в режиме большого электронного сгустка // Метрология. 2002. № 1. C. 20–30.

10. Аневский С. И. Эталонные источники синхротронного излучения // Метрология. 2001. № 12. C. 15–30.

11. Аневский С. И. и др. Разработка и исследование измерительного комплекса энергетической яркости в области вакуумного и ближнего ультрафиолета на основе ПЗС-матриц // Измерительная техника. 2010. № 7. C. 26–31;

12. Anevsky S. I. e. a. Development and study of a radiance measurement system based on a CCD array in the vacuum and near ultraviolet region // Measurement Techniques. 2010. V. 53. N 7. P. 764–771.


Review

For citations:


 ,  ,  ,  ,  ,  ,  ,   . Izmeritel`naya Tekhnika. 2012;(8):31-34. (In Russ.)

Views: 74


Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 0368-1025 (Print)
ISSN 2949-5237 (Online)