|Generate QR code
Open Access
Subscription Access
Совершенствование эталонной базы в области оптико-физических измерений
Abstract
The reference database of All-Russian research institute for optical and physical measurements, state and calibration capabilities of state primary standards, direction and prospects of their further development are described.
About the Authors
С. Голубев
1Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Russian Federation
Russian Federation
В. Крутиков
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Russian Federation
Russian Federation
В. Иванов
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Russian Federation
Russian Federation
Ю. Золотаревский
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Russian Federation
Russian Federation
Н. Муравская
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Russian Federation
Russian Federation
С. Негода
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Russian Federation
Russian Federation
References
1. Приказ Министерства промышленности и торговли РФ от 17 июня 2009 г. № 529 «Об утверждении Стратегии обеспечения единства измерений в России до 2015 года».
2. Федеральный закон от 26.06.2008 № 102-ФЗ (ред. от 21.07.2014) «Об обеспечении единства измерений».
3. BIPM [Офиц. сайт]. http://www.bipm.org (дата обращения 03.06.2015)
4. Крутиков В. Н., Кононогов С. А., Золотаревский Ю. М. Нормативно правовое обеспечение единства измерений. М.: Логос, 2014.
5. Кузнецов В. А., Исаев Л. К., Шайко И. А. Метрология. М.: Стандартинформ, 2005.
6. Квантовая метрология и фундаментальные константы: Сб. статьей / Пер. с англ.; под ред. Р. Н. Фаустова, В. П. Шелеста М.: Мир, 1981.
7. Пронкин Н. С. Основы метрологии: практикум по метрологии и измерениям. M.: Логос, 2007.
8. Сергеев А. Г. Метрология. M.: Логос, 2005.
9. Иванов В. С., Золотаревский Ю. М., Котюк А. Ф., Либерман А. А., Саприцкий В. И., Столяревская Р. И. Основы оптической радиометрии. М.: Физматлит, 2003.
10. Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии: учебное пособие. Под ред. В. Н. Крутикова. М.: Логос, 2011.
Review
For citations:
, , , , , . Izmeritel`naya Tekhnika. 2015;(11):6-11. (In Russ.)
Views:
66
Email this article 