|сгенерировать QR код
Открытый доступ
Только для подписчиков
Совершенствование эталонной базы в области оптико-физических измерений
Аннотация
Описана эталонная база ВНИИОФИ, состояние и калибровочные возможности государственных первичных эталонов, направление и дальнейшие перспективы их развития.
Об авторах
С. С. Голубев
1Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Россия
Россия
В. Н. Крутиков
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Россия
Россия
В. С. Иванов
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Россия
Россия
Ю. М. Золотаревский
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Россия
Россия
Н. П. Муравская
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Россия
Россия
С. Н. Негода
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Россия
Россия
Список литературы
1. Приказ Министерства промышленности и торговли РФ от 17 июня 2009 г. № 529 «Об утверждении Стратегии обеспечения единства измерений в России до 2015 года».
2. Федеральный закон от 26.06.2008 № 102-ФЗ (ред. от 21.07.2014) «Об обеспечении единства измерений».
3. BIPM [Офиц. сайт]. http://www.bipm.org (дата обращения 03.06.2015)
4. Крутиков В. Н., Кононогов С. А., Золотаревский Ю. М. Нормативно правовое обеспечение единства измерений. М.: Логос, 2014.
5. Кузнецов В. А., Исаев Л. К., Шайко И. А. Метрология. М.: Стандартинформ, 2005.
6. Квантовая метрология и фундаментальные константы: Сб. статьей / Пер. с англ.; под ред. Р. Н. Фаустова, В. П. Шелеста М.: Мир, 1981.
7. Пронкин Н. С. Основы метрологии: практикум по метрологии и измерениям. M.: Логос, 2007.
8. Сергеев А. Г. Метрология. M.: Логос, 2005.
9. Иванов В. С., Золотаревский Ю. М., Котюк А. Ф., Либерман А. А., Саприцкий В. И., Столяревская Р. И. Основы оптической радиометрии. М.: Физматлит, 2003.
10. Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии: учебное пособие. Под ред. В. Н. Крутикова. М.: Логос, 2011.
Рецензия
Для цитирования:
Голубев С.С., Крутиков В.Н., Иванов В.С., Золотаревский Ю.М., Муравская Н.П., Негода С.Н. Совершенствование эталонной базы в области оптико-физических измерений. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2015;(11):6-11.
Просмотров:
64
Послать статью по эл. почте 