izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-1308Research ArticleК ЮБИЛЕЮ ВНИИОФИСовершенствование эталонной базы в области оптико-физических измеренийГолубевС. С.noemail@neicon.ruКрутиковВ. Н.noemail@neicon.ruИвановВ. С.ymz@vniiofi.ruЗолотаревскийЮ. М.noemail@neicon.ruМуравскаяН. П.noemail@neicon.ruНегодаС. Н.noemail@neicon.ru1Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологииRussian FederationВсероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измеренийRussian Federation201507022023011611Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/1308

Описана эталонная база ВНИИОФИ, состояние и калибровочные возможности государственных первичных эталонов, направление и дальнейшие перспективы их развития.

The reference database of All-Russian research institute for optical and physical measurements, state and calibration capabilities of state primary standards, direction and prospects of their further development are described.

эталонная базакалибровочные возможностигосударственный первичный эталонreference databasecalibration capabilitiesoptical and physical measurementsReferencesПриказ Министерства промышленности и торговли РФ от 17 июня 2009 г. № 529 «Об утверждении Стратегии обеспечения единства измерений в России до 2015 года».Приказ Министерства промышленности и торговли РФ от 17 июня 2009 г. № 529 «Об утверждении Стратегии обеспечения единства измерений в России до 2015 года».Федеральный закон от 26.06.2008 № 102-ФЗ (ред. от 21.07.2014) «Об обеспечении единства измерений».Федеральный закон от 26.06.2008 № 102-ФЗ (ред. от 21.07.2014) «Об обеспечении единства измерений».BIPM [Офиц. сайт]. http://www.bipm.org (дата обращения 03.06.2015)BIPM [Офиц. сайт]. http://www.bipm.org (дата обращения 03.06.2015)Крутиков В. Н., Кононогов С. А., Золотаревский Ю. М. Нормативно правовое обеспечение единства измерений. М.: Логос, 2014.Крутиков В. Н., Кононогов С. А., Золотаревский Ю. М. Нормативно правовое обеспечение единства измерений. М.: Логос, 2014.Кузнецов В. А., Исаев Л. К., Шайко И. А. Метрология. М.: Стандартинформ, 2005.Кузнецов В. А., Исаев Л. К., Шайко И. А. Метрология. М.: Стандартинформ, 2005.Квантовая метрология и фундаментальные константы: Сб. статьей / Пер. с англ.; под ред. Р. Н. Фаустова, В. П. Шелеста М.: Мир, 1981.Квантовая метрология и фундаментальные константы: Сб. статьей / Пер. с англ.; под ред. Р. Н. Фаустова, В. П. Шелеста М.: Мир, 1981.Пронкин Н. С. Основы метрологии: практикум по метрологии и измерениям. M.: Логос, 2007.Пронкин Н. С. Основы метрологии: практикум по метрологии и измерениям. M.: Логос, 2007.Сергеев А. Г. Метрология. M.: Логос, 2005.Сергеев А. Г. Метрология. M.: Логос, 2005.Иванов В. С., Золотаревский Ю. М., Котюк А. Ф., Либерман А. А., Саприцкий В. И., Столяревская Р. И. Основы оптической радиометрии. М.: Физматлит, 2003.Иванов В. С., Золотаревский Ю. М., Котюк А. Ф., Либерман А. А., Саприцкий В. И., Столяревская Р. И. Основы оптической радиометрии. М.: Физматлит, 2003.Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии: учебное пособие. Под ред. В. Н. Крутикова. М.: Логос, 2011.Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии: учебное пособие. Под ред. В. Н. Крутикова. М.: Логос, 2011.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.