Preview

Izmeritel`naya Tekhnika

Advanced search
Open Access Open Access  Restricted Access Subscription Access

Тепловые эффекты при низковольтном электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе с нанометровой локальностью

Abstract

Evaluation is made of thermal influence of the electron probe in the low-voltage x-ray nanoanalysis. It is shown that despite significant increase in volumetric power density, due to electron irradiation, for most inorganic materials thermal effects are of no significance. For orogenic materials, these effects can significantly affect the results, causing destruction of a sample.

About the Authors

А. Кузин
Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы
Russian Federation


М. Степович
Калужский государственный университет им. К.Э. Циолковского
Russian Federation


В. Митюхляев
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Russian Federation


П. Тодуа
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Russian Federation


М. Филиппов
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Russian Federation


References

1. Боровский И. Б., Водоватов Ф. Ф., Жуков А. А., Черепин В. Т. Локальные методы анализа материалов. М.: Металлургия,1973.

2. Reimer L. Scanning electron microscopy. Physics c image formation and microanalysis. Berlin, N.Y.: Heidelberg Springer, 1998.

3. Гавриленко В. П., Кузин А. Ю., Митюхляев В. Б., Степович М. А., Тодуа П. А., Филиппов М. Н. Измерение толщины окисной пленки на поверхности кремния электронно-зондовым методом // Измерительная техника. 2015. № 9. С. 13-16.

4. Гавриленко В. П., Кузин А. Ю., Митюхляев В. Б., Степович М. А., Тодуа П. А., Филиппов М. Н., Карабанов Д. А. Образование окисной пленки на поверхности кремниевой рельефной структуры в процессе плазменной очистки // Измерительная техника. 2015. № 9. С. 13-16.

5. Kanaya К., Okayama S. Penetration and energy-loss theory of electrons in solid targets // J. Phys. D.: Appl. Phys. 1972. V. 5. P. 43-58.

6. Шульман А. Р., Фридрихов С. А. Вторично-эмиссионные методы исследования твердого тела. М.: Наука, 1977.

7. Филиппов М. Н. Оценка теплового воздействия электронного зонда в растровой электронной микроскопии и рентгеновском микроанализе // Известия АН. Сер. Физическая. 1993. Т. 57. № 8. С. 165-171.


Review

For citations:


 ,  ,  ,  ,   . Izmeritel`naya Tekhnika. 2016;(10):27-29. (In Russ.)

Views: 65


ISSN 0368-1025 (Print)
ISSN 2949-5237 (Online)