

Тепловые эффекты при низковольтном электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе с нанометровой локальностью
Abstract
About the Authors
А. КузинRussian Federation
М. Степович
Russian Federation
В. Митюхляев
Russian Federation
П. Тодуа
Russian Federation
М. Филиппов
Russian Federation
References
1. Боровский И. Б., Водоватов Ф. Ф., Жуков А. А., Черепин В. Т. Локальные методы анализа материалов. М.: Металлургия,1973.
2. Reimer L. Scanning electron microscopy. Physics c image formation and microanalysis. Berlin, N.Y.: Heidelberg Springer, 1998.
3. Гавриленко В. П., Кузин А. Ю., Митюхляев В. Б., Степович М. А., Тодуа П. А., Филиппов М. Н. Измерение толщины окисной пленки на поверхности кремния электронно-зондовым методом // Измерительная техника. 2015. № 9. С. 13-16.
4. Гавриленко В. П., Кузин А. Ю., Митюхляев В. Б., Степович М. А., Тодуа П. А., Филиппов М. Н., Карабанов Д. А. Образование окисной пленки на поверхности кремниевой рельефной структуры в процессе плазменной очистки // Измерительная техника. 2015. № 9. С. 13-16.
5. Kanaya К., Okayama S. Penetration and energy-loss theory of electrons in solid targets // J. Phys. D.: Appl. Phys. 1972. V. 5. P. 43-58.
6. Шульман А. Р., Фридрихов С. А. Вторично-эмиссионные методы исследования твердого тела. М.: Наука, 1977.
7. Филиппов М. Н. Оценка теплового воздействия электронного зонда в растровой электронной микроскопии и рентгеновском микроанализе // Известия АН. Сер. Физическая. 1993. Т. 57. № 8. С. 165-171.
Review
For citations:
, , , , . Izmeritel`naya Tekhnika. 2016;(10):27-29. (In Russ.)