|сгенерировать QR код
Открытый доступ
Только для подписчиков
Методическая погрешность измерений показателя степени частотной зависимости спектра низкочастотного шума
Аннотация
Рассмотрены особенности измерений параметров низкочастотного шума со спектром вида 1/ f изделий электронной техники. Получены и проанализированы выражения для методической погрешности определения показателя степени по результатам однократных измерений спектральной плотности мощности шума методом непосредственной оценки на двух частотах с учетом тепловых и дробовых шумов контролируемого изделия. Даны рекомендации по минимизации суммарной погрешности определения
Об авторах
В. А. Сергеев
Ульяновский государственный технический университет
Россия
Россия
С. Е. Резчиков
Ульяновский государственный технический университет
Россия
Россия
Список литературы
1. Коган Ш. М. Низкочастотный токовый шум со спектром типа 1/f в твердых телах // УФН. 1985. Вып. 2. С. 285-328.
2. Беляков А. В., Моряшин А. В., Перов М. Ю., Якимов А. В. Исследование 1/f шума в наноразмерных полупроводниковых структурах // Вестник ННГУ им. Н. И. Лобачевского. Радиофизика. 2004. Вып. 2. С. 143-153.
3. Жигальский Г. П. Неразрушающий контроль качества и предсказание надежности интегральных микросхем по электрическим шумам и параметрам надежности // Радиотехника и электроника. 2005. № 5. С. 1-35.
4. Горлов М. И., Смирнов Д. Ю., Ануфриев Д. Л. Классификация надежности интегральных схем с использованием показателя формы спектра γ // Известия высших учебных заведений. Электроника. 2006. № 5. С. 78-82.
5. Saulys B., Matukas J., Palenskis V. Light Emitting Diode Degradation and Low-Frequency Noise Characteristics // Acta Physica Polonica A. 2011. № 4. P. 514-520.
6. Sergeev V. A., Frolov I. V., Shirokov A. A., Shcherbatyuk A. N. Probability Characteristics Of Electrical Noise in Heterojunction-Based Light Emitting Diodes // Semiconductors. 2011. № 13. P. 50-55.
7. Горлов М. И. Смирнов Д. Ю., Ануфриев Д. Л. Измерение шумовых параметров полупроводниковых изделий // Измерительная техника. 2006. № 12. С. 46-49.
8. Сергеев В. А., Дулов О. А. Методические погрешности измерения параметров низкочастотного шума со спектром вида 1/f γ // Измерительная техника. 2008. № 10. С. 51-53.
9. Мирский Г. Я. Электронные измерения. М.: Радио и связь, 1986.
10. Бендат Д. С., Пирсол А. Прикладной анализ случайных данных / Пер. с англ. В. Е. Привольского, А. И. Кочубинского, под ред. И. Н. Коваленко. М.: Мир, 1989.
11. Mack C. A. Systematic errors in the measurement of power spectral density // Proc. SPIE 8681, Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXVII, 2013. P. 033016-033016-10.
12. Reschikoff S. On reliability of optimum analysis bandwidth formula for flicker noise // 1st Int. School and Conf. Optoelectronics, Photonics, Engineering and Nanostructures. St. Petersburg (Russia), 2014. P. 105-106.
Рецензия
Для цитирования:
Сергеев В.А., Резчиков С.Е. Методическая погрешность измерений показателя степени частотной зависимости спектра низкочастотного шума. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2015;(10):55-59.
Просмотров:
99
Послать статью по эл. почте 