Preview

Измерительная техника

Расширенный поиск

Метод измерениймощности субтерагерцевого и терагерцевого излучений с использованием резонансно-туннельных диодов

Аннотация

Предложен метод измерений мощностисубтерагерцевого и терагерцевогоизлученийпри помощирезонансно-туннельныхдиодов, основанный на регистрации изменения их вольт-амперных характеристик. Продемонстрирована возможность расширения микроволновых методов регистрации сверхвысокочастотных сигналов в указанной области излучения. Показано, что на базе такого диода обеспечивается детектирование микроволнового излучения в широком интервале интенсивностей сверхвысокочастотных полей.

Об авторах

Г. Н. Измайлов
Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет)
Россия


Ю. А. Митягин
Физический институт им. П.Н.Лебедева РАН
Россия


В. Н. Мурзин
Физический институт им. П.Н.Лебедева РАН
Россия


С. А. Савинов
Физический институт им. П.Н.Лебедева РАН
Россия


С. С. Шмелев
Национальный исследовательский университет «МИЭТ»
Россия


Е. М. Апостолова
НПП «Пульсар»
Россия


Список литературы

1. Измайлов Г. Н. и др. // «Терагерцовое излучение Солнца» Инженерно-физические проблемы новой техники: Сборник материалов 9-го Всерос. Совещ.-семин. МГТУ им. Н. Э. Баумана. 2010. С. 56–57.

2. Карузский А. Л. и др. // «Нелинейные свойства двухи трёхбарьерных резонансно-туннельных структур в суб-ТГц диапазоне», Вестник НИЯУ “МИФИ”. 2012. Т. 1. № 2. С. 146–154.

3. Karuzskii A. L. e. a. // «The novel THz generation and detection possibilities ofresonant-tunneling based semiconductormultiple-quantum well nanostructures», Proc. SPIE. 2012. V. 8700. P. 87000P–1/87000P-10.


Рецензия

Для цитирования:


Измайлов Г.Н., Митягин Ю.А., Мурзин В.Н., Савинов С.А., Шмелев С.С., Апостолова Е.М. Метод измерениймощности субтерагерцевого и терагерцевого излучений с использованием резонансно-туннельных диодов. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2013;(8):16-18.

Просмотров: 61


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 0368-1025 (Print)
ISSN 2949-5237 (Online)