Измерительный комплекс спектроскопии низкочастотных шумов полупроводниковых диодных структур
Аннотация
Рассмотрен измерительный комплекс спектроскопии низкочастотных шумов полупроводниковых диодных структур для изучения механизмов генерации шума. Приведены конструктивно-методологические особенности автоматизированной установки для измерения и исследования шумов в полупроводниковых структурах.
Об авторах
С. А. Кострюков
Рязанский государственный радиотехнический университет
Россия
Россия
А. В. Ермачихин
Рязанский государственный радиотехнический университет
Россия
Россия
В. Г. Литвинов
Рязанский государственный радиотехнический университет
Россия
Россия
Т. А. Холомина
Рязанский государственный радиотехнический университет
Россия
Россия
Н. Б. Рыбин
Рязанский государственный радиотехнический университет
Россия
Россия
Список литературы
1. Кострюков С.А. Автоматизированная установка для измерения СПМ низкочастотных шумов // Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах: Материалы междунар. науч.-метод. семинара. М.: МНТРОЭС им. А.С. Попова, 2003. С. 23–25.
2. Кострюков С.А., Холомина Т.А. Особенности анализа сигналов низкочастотного шума методом дискретного преобразования Фурье. //Измерительная техника. 2005. № 12. С. 47–50;Kostryukov S. A., Kholomina T. A. Features of the analysis of low-frequency noise by the discrete fourier transformation method // Measurement Techniques. 2005. V. 48. N. 12. P. 1217–1221.
3. Ермачихин А.В., Литвинов В.Г., Мальченко С.И.Программное обеспечение измерительной установки для низкочастотной спектроскопии // Инженерные и научные приложения на базе National Instruments-2012: ТрудыXI междунар. науч.-практ.конф.М., 2012. С. 387–389.
4. Свид-во обофиц. регистрации программы для ЭВМ № 2012617503. Программа для автоматизированного измерения НЧ-шумов и спектральной плотности мощности шума в элементах электронной техники А. В. Ермачихини др. (RU) // Программы для ЭВМ, базыданных, топологии интегральных микросхем. 2012. № 4 (81). Ч. 2. С. 361–362.
5. Букингем М. Шумы в электронных приборах и системах /Пер. с англ. М.: Мир, 1986.
6. Ермачихин А. В. и др. Исследование шумовых свойств и электронных состояний диода Шоттки на основе гетероструктурыInGaAs/GaAs с квантовой ямой // Вестник Рязанского гос. радиотехнического ун-та.2012.№3 (Вып.41). С. 98–103.
Рецензия
Для цитирования:
Кострюков С.А., Ермачихин А.В., Литвинов В.Г., Холомина Т.А., Рыбин Н.Б. Измерительный комплекс спектроскопии низкочастотных шумов полупроводниковых диодных структур. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2013;(9):61-64.
Просмотров:
104
Послать статью по эл. почте 