izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-521Research ArticleРАДИОТЕХНИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯRADIO MEASUREMENTSИзмерительный комплекс спектроскопии низкочастотных шумов полупроводниковых диодных структурКострюковС. А.noemail@neicon.ruЕрмачихинА. В.al.erm@mail.ruЛитвиновВ. Г.noemail@neicon.ruХоломинаТ. А.noemail@neicon.ruРыбинН. Б.noemail@neicon.ruРязанский государственный радиотехнический университетRussian Federation201307022023096164Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/521

Рассмотрен измерительный комплекс спектроскопии низкочастотных шумов полупроводниковых диодных структур для изучения механизмов генерации шума. Приведены конструктивно-методологические особенности автоматизированной установки для измерения и исследования шумов в полупроводниковых структурах.

The measuring complex of spectroscopy of low-frequency noises of semiconductor diode structures for study of the mechanisms of noise generation is considered.The methodological and design features of automated installation for measurement and study of noises in semiconductor structures arepresented.

низкочастотные шумыспектроскопия полупроводниковая диодная структураспектральная плотность мощностиspectroscopylow-frequency noisessemiconductor diode structurepower spectral densityReferencesКострюков С.А. Автоматизированная установка для измерения СПМ низкочастотных шумов // Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах: Материалы междунар. науч.-метод. семинара. М.: МНТРОЭС им. А.С. Попова, 2003. С. 23–25.Кострюков С.А. Автоматизированная установка для измерения СПМ низкочастотных шумов // Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах: Материалы междунар. науч.-метод. семинара. М.: МНТРОЭС им. А.С. Попова, 2003. С. 23–25.Кострюков С.А., Холомина Т.А. Особенности анализа сигналов низкочастотного шума методом дискретного преобразования Фурье. //Измерительная техника. 2005. № 12. С. 47–50;Kostryukov S. A., Kholomina T. A. Features of the analysis of low-frequency noise by the discrete fourier transformation method // Measurement Techniques. 2005. V. 48. N. 12. P. 1217–1221.Кострюков С.А., Холомина Т.А. Особенности анализа сигналов низкочастотного шума методом дискретного преобразования Фурье. //Измерительная техника. 2005. № 12. С. 47–50;Kostryukov S. A., Kholomina T. A. Features of the analysis of low-frequency noise by the discrete fourier transformation method // Measurement Techniques. 2005. V. 48. N. 12. P. 1217–1221.Ермачихин А.В., Литвинов В.Г., Мальченко С.И.Программное обеспечение измерительной установки для низкочастотной спектроскопии // Инженерные и научные приложения на базе National Instruments-2012: ТрудыXI междунар. науч.-практ.конф.М., 2012. С. 387–389.Ермачихин А.В., Литвинов В.Г., Мальченко С.И.Программное обеспечение измерительной установки для низкочастотной спектроскопии // Инженерные и научные приложения на базе National Instruments-2012: ТрудыXI междунар. науч.-практ.конф.М., 2012. С. 387–389.Свид-во обофиц. регистрации программы для ЭВМ № 2012617503. Программа для автоматизированного измерения НЧ-шумов и спектральной плотности мощности шума в элементах электронной техники А. В. Ермачихини др. (RU) // Программы для ЭВМ, базыданных, топологии интегральных микросхем. 2012. № 4 (81). Ч. 2. С. 361–362.Свид-во обофиц. регистрации программы для ЭВМ № 2012617503. Программа для автоматизированного измерения НЧ-шумов и спектральной плотности мощности шума в элементах электронной техники А. В. Ермачихини др. (RU) // Программы для ЭВМ, базыданных, топологии интегральных микросхем. 2012. № 4 (81). Ч. 2. С. 361–362.Букингем М. Шумы в электронных приборах и системах /Пер. с англ. М.: Мир, 1986.Букингем М. Шумы в электронных приборах и системах /Пер. с англ. М.: Мир, 1986.Ермачихин А. В. и др. Исследование шумовых свойств и электронных состояний диода Шоттки на основе гетероструктурыInGaAs/GaAs с квантовой ямой // Вестник Рязанского гос. радиотехнического ун-та.2012.№3 (Вып.41). С. 98–103.Ермачихин А. В. и др. Исследование шумовых свойств и электронных состояний диода Шоттки на основе гетероструктурыInGaAs/GaAs с квантовой ямой // Вестник Рязанского гос. радиотехнического ун-та.2012.№3 (Вып.41). С. 98–103.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.