Разработка стандартных образцов и методов калибровки малоугловых рентгеновских дифрактометров для сертификации и стандартизации продукции наноиндустрии
Abstract
The certified reference materials (RM) of the thickness of bilayers of Langmuir-Blodgett PbSt2 films on the quartz substrate for calibration of small-angle X-ray diffractometers used for certification and standardization of nanoindustry productions were developed.
About the Authors
А. Авилов
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Russian Federation
Russian Federation
А. Батурин
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Russian Federation
Russian Federation
В. Волков
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Russian Federation
Russian Federation
Ю. Дьякова
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Russian Federation
Russian Federation
М. Ермакова
Московский физико-технический институт
Russian Federation
Russian Federation
А. Кузин
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Russian Federation
Russian Federation
М. Марченкова
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Russian Federation
Russian Federation
В. Митюхляев
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Russian Federation
Russian Federation
А. Серегин
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Russian Federation
Russian Federation
С. Сульянов
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Russian Federation
Russian Federation
Е. Терещенко
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Russian Federation
Russian Federation
П. Тодуа
Московский физико-технический институт
Russian Federation
Russian Federation
References
1. Blodgett K. B. Films built by depositing successive monomolecular layers on a solid surface // J.Am. Chem. Soc. 1935. V. 57. N. 6. P. 100–1022.
2. Блинов Л. М. Ленгмюровские пленки // УФН. 1988. Т. 155. № 3. С. 443–480.
3. Schwartz D. K. Langmuir-Blodgett Film Structure // Surf. Sci. Rep. 1997. V. 27. P. 241–334.
4. Peng J. B., Barnes G. T., Gentle I. R. The structures of Langmuir-Blodgett films of fatty acids and their salts // Adv. Colloid Interface Sci. 2001. V. 91. N. 2. P. 163–219.
5. Клечковская В. В. и др. Исследование процесса образования нанокристаллов PbS в пленках Ленгмюра–Блоджетт стеарата и бегената свинца методами электронографии и рентгеновской рефлектометрии// Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед. 2007. № 6. С. 20–25.
6. Hohne Z. U., Mohwald H. The influence of counterions and hydrophobic moieties on the thermostability of Langmuir-Blodgett multilayers // Thin Solid Films. 1994. V. 243. N. 1–2. P. 425–430.
7. Pietsch Ž. U. e.a. The domain structure of LB multilayers prepared from fatty acid salts // Thin Solid Films. 1996. V. 284/285. P. 387–391.
8. Yang B., Qiao Y. Structural characterization of Langmuir–Blodgett films by X-ray diffraction in transmission geometry//Thin Solid Films. 1998. V. 330. N. 2. P. 157–160.
9. Prakash M., Ketterson J. B., Dutta P. Study of in-plane structure in lead-fatty acid LB films using X-ray diffraction // Thin Solid Films. 1985. V. 134. P. 1–4.
10. Barberka T. A. e.a. Investigation of the in-plane structure of Pb and Ni stearate multilayers by means of grazing incidence X-ray diffraction // Thin Solid Films. 1994. V. 244. P. 1061–1066.
11. Malik A. e.a. Structures of head-group and tail-group monolayers in a Langmuir–Blodgett film//Phys.Rev. B. 1995. V. 52. N. 16. R11654–R11657.
12. Rothberg L. e.a. Thermal disordering of Langmuir–Blodgett films of cadmium stearate on sapphire//Chem.Phys. Lett. 1987. V. 133. N. 1. P. 67–72.
13. Kenn R. M., Tippmann-Krayer P., Möhwald H. Thickness and temperature dependent structure of Cd arachidate Langmuir–Blodgett films // Thin Solid Films. 1992. V. 210–211. N. 2. P. 577–582.
14. ГОСТ 8.531–2002. ГСИ. Стандартные образцы состава монолитных и дисперсных материалов. Способы оценивания однородности.
15. Р 50.2.031–2003. ГСИ. Рекомендации по метрологии. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов. Методика оценивания характеристики стабильности.
16. Хейкер Д. М. и др. Станция белковой кристаллографии на пучке СИ из поворотного магнита накопителя «Сибирь-2» // Кристаллография. 2007. Т. 52. С. 374–380.
17. Sulyanov S. N., Popov A. N., Kheiker D. M. Using a two-dimensional detector for X-ray powder diffractometry//J. Appl. Cryst. 1994. V. 27. P. 934–942.
Review
For citations:
, , , , , , , , , , , . Izmeritel`naya Tekhnika. 2013;(9):27-31. (In Russ.)
Views:
78
Email this article 