Preview

Измерительная техника

Расширенный поиск

Разработка стандартных образцов и методов калибровки малоугловых рентгеновских дифрактометров для сертификации и стандартизации продукции наноиндустрии

Аннотация

Разработаны стандартные образцы толщины бислоев ленгмюровских пленок стеарата свинца на кварцевой подложке и методы калибровки с их использованием малоугловых рентгеновских дифрактометров.

Об авторах

А. С. Авилов
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Россия


А. С. Батурин
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Россия


В. В. Волков
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Россия


Ю. А. Дьякова
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Россия


М. А. Ермакова
Московский физико-технический институт
Россия


А. Ю. Кузин
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Россия


М. А. Марченкова
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Россия


В. Б. Митюхляев
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Россия


А. Ю. Серегин
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Россия


С. Н. Сульянов
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Россия


Е. Ю. Терещенко
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Россия


П. А. Тодуа
Московский физико-технический институт
Россия


Список литературы

1. Blodgett K. B. Films built by depositing successive monomolecular layers on a solid surface // J.Am. Chem. Soc. 1935. V. 57. N. 6. P. 100–1022.

2. Блинов Л. М. Ленгмюровские пленки // УФН. 1988. Т. 155. № 3. С. 443–480.

3. Schwartz D. K. Langmuir-Blodgett Film Structure // Surf. Sci. Rep. 1997. V. 27. P. 241–334.

4. Peng J. B., Barnes G. T., Gentle I. R. The structures of Langmuir-Blodgett films of fatty acids and their salts // Adv. Colloid Interface Sci. 2001. V. 91. N. 2. P. 163–219.

5. Клечковская В. В. и др. Исследование процесса образования нанокристаллов PbS в пленках Ленгмюра–Блоджетт стеарата и бегената свинца методами электронографии и рентгеновской рефлектометрии// Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед. 2007. № 6. С. 20–25.

6. Hohne Z. U., Mohwald H. The influence of counterions and hydrophobic moieties on the thermostability of Langmuir-Blodgett multilayers // Thin Solid Films. 1994. V. 243. N. 1–2. P. 425–430.

7. Pietsch Ž. U. e.a. The domain structure of LB multilayers prepared from fatty acid salts // Thin Solid Films. 1996. V. 284/285. P. 387–391.

8. Yang B., Qiao Y. Structural characterization of Langmuir–Blodgett films by X-ray diffraction in transmission geometry//Thin Solid Films. 1998. V. 330. N. 2. P. 157–160.

9. Prakash M., Ketterson J. B., Dutta P. Study of in-plane structure in lead-fatty acid LB films using X-ray diffraction // Thin Solid Films. 1985. V. 134. P. 1–4.

10. Barberka T. A. e.a. Investigation of the in-plane structure of Pb and Ni stearate multilayers by means of grazing incidence X-ray diffraction // Thin Solid Films. 1994. V. 244. P. 1061–1066.

11. Malik A. e.a. Structures of head-group and tail-group monolayers in a Langmuir–Blodgett film//Phys.Rev. B. 1995. V. 52. N. 16. R11654–R11657.

12. Rothberg L. e.a. Thermal disordering of Langmuir–Blodgett films of cadmium stearate on sapphire//Chem.Phys. Lett. 1987. V. 133. N. 1. P. 67–72.

13. Kenn R. M., Tippmann-Krayer P., Möhwald H. Thickness and temperature dependent structure of Cd arachidate Langmuir–Blodgett films // Thin Solid Films. 1992. V. 210–211. N. 2. P. 577–582.

14. ГОСТ 8.531–2002. ГСИ. Стандартные образцы состава монолитных и дисперсных материалов. Способы оценивания однородности.

15. Р 50.2.031–2003. ГСИ. Рекомендации по метрологии. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов. Методика оценивания характеристики стабильности.

16. Хейкер Д. М. и др. Станция белковой кристаллографии на пучке СИ из поворотного магнита накопителя «Сибирь-2» // Кристаллография. 2007. Т. 52. С. 374–380.

17. Sulyanov S. N., Popov A. N., Kheiker D. M. Using a two-dimensional detector for X-ray powder diffractometry//J. Appl. Cryst. 1994. V. 27. P. 934–942.


Рецензия

Для цитирования:


Авилов А.С., Батурин А.С., Волков В.В., Дьякова Ю.А., Ермакова М.А., Кузин А.Ю., Марченкова М.А., Митюхляев В.Б., Серегин А.Ю., Сульянов С.Н., Терещенко Е.Ю., Тодуа П.А. Разработка стандартных образцов и методов калибровки малоугловых рентгеновских дифрактометров для сертификации и стандартизации продукции наноиндустрии. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2013;(9):27-31.

Просмотров: 79


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 0368-1025 (Print)
ISSN 2949-5237 (Online)