

Методическая погрешность измерений нелинейной емкости
Abstract
About the Authors
В. СергеевRussian Federation
И. Фролов
Russian Federation
References
1. Маняхин Ф. И. Измерение распределения и температурной зависимости эффективной концентрации заряженных центров в базовой области диодных структур // Измерительная техника. 1996. №11. С. 49-52;Manyakhin F. I. Measurement of the distribution and temperature dependence of the effective charge-center density in the base region of diode structures // Measurement Techniques. 1996. V. 39. N. 11. P. 1147-1152.
2. Зубков В. И. Диагностика гетероструктур с квантовыми ямами InxGa1-xAs/GaAs методом вольт-фарадных характеристик: разрывы зон, уровни квантования, волновые функции // ФТП. 2007. Т. 41. Вып. 3. С. 331-337.
3. Концевой Ю. А, Кудин В. Д. Методы контроля технологии производства полупроводниковых приборов. М.: Энергия, 1973.
4. Берман Л. С. Нелинейная полупроводниковая емкость. М.: Физматгиз, 1963.
5. ГОСТ 18986.4-73. Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости.
6. Полупроводниковые диоды. Параметры, методы измерений / Под ред. Н. Н. Горюнова и Ю. Р. Носова. М.: Сов.радио, 1968.
7. Мирский Г. Я. Электронные измерения. М.: Радио и связь, 1986.
8. Сергеев А. Г. Метрология: Учеб.пособие. М.: Логос, 2005.
Review
For citations:
, . Izmeritel`naya Tekhnika. 2014;(3):65-69. (In Russ.)