Preview

Izmeritel`naya Tekhnika

Advanced search
Open Access Open Access  Restricted Access Subscription Access

Методическая погрешность измерений нелинейной емкости

Abstract

The dependences of methodical errorof nonlinearcapacitance measurement fromthe testharmonic signal level at usingthe different typesof AC/DC converters were obtained. In is shown onan example ofsemiconductordiodethat the leastmethodical errorat measurement ofthe diffusioncapacityis achieved forhalf-period averagevalue converters and the errorof the barrier capacitancemeasurement is equalfor all types ofconverters.

About the Authors

В. Сергеев
Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. КотельниковаРАН
Russian Federation


И. Фролов
Ульяновский государственный технический университет
Russian Federation


References

1. Маняхин Ф. И. Измерение распределения и температурной зависимости эффективной концентрации заряженных центров в базовой области диодных структур // Измерительная техника. 1996. №11. С. 49-52;Manyakhin F. I. Measurement of the distribution and temperature dependence of the effective charge-center density in the base region of diode structures // Measurement Techniques. 1996. V. 39. N. 11. P. 1147-1152.

2. Зубков В. И. Диагностика гетероструктур с квантовыми ямами InxGa1-xAs/GaAs методом вольт-фарадных характеристик: разрывы зон, уровни квантования, волновые функции // ФТП. 2007. Т. 41. Вып. 3. С. 331-337.

3. Концевой Ю. А, Кудин В. Д. Методы контроля технологии производства полупроводниковых приборов. М.: Энергия, 1973.

4. Берман Л. С. Нелинейная полупроводниковая емкость. М.: Физматгиз, 1963.

5. ГОСТ 18986.4-73. Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости.

6. Полупроводниковые диоды. Параметры, методы измерений / Под ред. Н. Н. Горюнова и Ю. Р. Носова. М.: Сов.радио, 1968.

7. Мирский Г. Я. Электронные измерения. М.: Радио и связь, 1986.

8. Сергеев А. Г. Метрология: Учеб.пособие. М.: Логос, 2005.


Review

For citations:


 ,   . Izmeritel`naya Tekhnika. 2014;(3):65-69. (In Russ.)

Views: 83


ISSN 0368-1025 (Print)
ISSN 2949-5237 (Online)