<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-436</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>РАДИОТЕХНИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>RADIO MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Методическая погрешность измерений нелинейной емкости</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Сергеев</surname><given-names>В. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">ilya-frolov88@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Фролов</surname><given-names>И. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. КотельниковаРАН</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-2"><institution>Ульяновский государственный технический университет</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2014</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>3</issue><fpage>65</fpage><lpage>69</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Сергеев В.А., Фролов И.В., 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Сергеев В.А., Фролов И.В.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Сергеев В.А., Фролов И.В.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/436">https://www.izmt.ru/jour/article/view/436</self-uri><abstract><p>Получены зависимости методической погрешности измерений нелинейной емкости от амплитуды тестового гармонического сигнала при использовании различных типов преобразователей переменного напряжения в постоянное. На примере полупроводникового диода показано, что наименьшая методическая погрешность при измерении диффузионной емкости достигается для преобразователей средневыпрямленного значения, а погрешность измерения барьерной емкости одинакова для всех типов преобразователей.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The dependences of methodical errorof nonlinearcapacitance measurement fromthe testharmonic signal level at usingthe different typesof AC/DC converters were obtained. In is shown onan example ofsemiconductordiodethat the leastmethodical errorat measurement ofthe diffusioncapacityis achieved forhalf-period averagevalue converters and the errorof the barrier capacitancemeasurement is equalfor all types ofconverters.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>нелинейная емкость</kwd><kwd>преобразователь напряжения</kwd><kwd>полупроводниковый диод</kwd><kwd>диффузионная и барьерная емкости</kwd><kwd>nonlinear capacity</kwd><kwd>measurement error</kwd><kwd>voltage converter</kwd><kwd>semiconductor diode</kwd><kwd>barrier capacity</kwd><kwd>diffusion capacity</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Маняхин Ф. И. Измерение распределения и температурной зависимости эффективной концентрации заряженных центров в базовой области диодных структур // Измерительная техника. 1996. №11. С. 49-52;Manyakhin F. I. Measurement of the distribution and temperature dependence of the effective charge-center density in the base region of diode structures // Measurement Techniques. 1996. V. 39. N. 11. P. 1147-1152.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Маняхин Ф. И. Измерение распределения и температурной зависимости эффективной концентрации заряженных центров в базовой области диодных структур // Измерительная техника. 1996. №11. С. 49-52;Manyakhin F. I. Measurement of the distribution and temperature dependence of the effective charge-center density in the base region of diode structures // Measurement Techniques. 1996. V. 39. N. 11. P. 1147-1152.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Зубков В. И. Диагностика гетероструктур с квантовыми ямами InxGa1-xAs/GaAs методом вольт-фарадных характеристик: разрывы зон, уровни квантования, волновые функции // ФТП. 2007. Т. 41. Вып. 3. С. 331-337.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Зубков В. И. Диагностика гетероструктур с квантовыми ямами InxGa1-xAs/GaAs методом вольт-фарадных характеристик: разрывы зон, уровни квантования, волновые функции // ФТП. 2007. Т. 41. Вып. 3. С. 331-337.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Концевой Ю. А, Кудин В. Д. Методы контроля технологии производства полупроводниковых приборов. М.: Энергия, 1973.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Концевой Ю. А, Кудин В. Д. Методы контроля технологии производства полупроводниковых приборов. М.: Энергия, 1973.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Берман Л. С. Нелинейная полупроводниковая емкость. М.: Физматгиз, 1963.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Берман Л. С. Нелинейная полупроводниковая емкость. М.: Физматгиз, 1963.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ 18986.4-73. Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ 18986.4-73. Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Полупроводниковые диоды. Параметры, методы измерений / Под ред. Н. Н. Горюнова и Ю. Р. Носова. М.: Сов.радио, 1968.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Полупроводниковые диоды. Параметры, методы измерений / Под ред. Н. Н. Горюнова и Ю. Р. Носова. М.: Сов.радио, 1968.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Мирский Г. Я. Электронные измерения. М.: Радио и связь, 1986.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Мирский Г. Я. Электронные измерения. М.: Радио и связь, 1986.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сергеев А. Г. Метрология: Учеб.пособие. М.: Логос, 2005.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Сергеев А. Г. Метрология: Учеб.пособие. М.: Логос, 2005.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
