Preview

Izmeritel`naya Tekhnika

Advanced search
Open Access Open Access  Restricted Access Subscription Access

Мобильный адаптируемый измеритель характеристик низкочастотных шумов для диагностики электровакуумных приборов

Abstract

Mobile measuring equipment adaptive for measurement low-frequency noise characteristics of vacuum tubes with wide range impedance was developed. Software to control operation of equipment, automatic measurements and processing results was created. The possibility of determining the diagnostic parameters for thermionic cathodes in vacuum tubes was demonstrated.

About the Authors

М. Воробьев
Научный исследовательский университет «МЭИ»
Russian Federation


Д. Юдаев
Научный исследовательский университет «МЭИ»
Russian Federation


References

1. Ходневич С. П., Киселёв А. Б. Низкочастотные шумы и эмиссионная неоднородность окислов щелочноземельных металлов // Электронная техника. Сер. 1. Электроника СВЧ. 1972. Вып. 7. С. 23-32.

2. Гродзенский С. Я. Физико-статистические методы исследования надёжности электронных приборов // Обзоры по электронной технике. Сер.1. Электроника СВЧ. М.: ЦНИИ “Электроника”, 1990.

3. Пат. 2065635 РФ. Способ неразрушающего контроля качества катодов электронно-лучевых трубок / М. Д. Воробьев, С. М. Склизнев, Л. П.Смирнов, П. А. Цветков // Изобретения. 1996. № 8.

4. Vandamme L. R. J. Noise as a diagnostic tool for quality and reliability of electronic devices // IEEE Trans. Electron Devices. 1994. V. 41. No.11. P. 2176 - 2187.

5. Воробьёв М.Д., Юдаев Д.Н. Шумовая диагностика термокатодов в составе электронно-лучевой пушки // Прикладная физика, М.: 2010г. - с.60 - 65.

6. Воробьев М.Д., Чирков М.Н., Шитов Е.М., Юдаев Д.Н., Акимов П.И., Смирнов В.Н. Шумовые параметры дефектов эмитирующей поверхности термоэлектронных катодов // Радиотехника и электроника, т.61, № 7, 2016г. - с.711 - 716.

7. Шитов Е.М. Программно-аппаратный комплекс для шумовой диагностики термоэлектронных катодов электровакуумных приборов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук. Рязань, 2014.

8. Оппенгейм А., Шафер Р., Боев С. Ф. Цифровая обработка сигналов. М.: Техносфера, 2012.

9. Воробьев М.Д., Кумов Я.С., Чудин В.Г., Юдаев Д.Н. Низкочастотные шумы, создаваемые дефектами эмитирующей поверхности термоэлектронных катодов. СТНО-2016, Т.2, 2016г. - с.167 - 170.

10. Macfarlane G.G. A theory of contact noise in semiconductors // Proc. Physic. Soc. 1950. Section B. V. 63. No. 10. P. 807 - 814.


Review

For citations:


 ,   . Izmeritel`naya Tekhnika. 2017;(7):58-61. (In Russ.)

Views: 98


ISSN 0368-1025 (Print)
ISSN 2949-5237 (Online)