Preview

Измерительная техника

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Савин А.А., Губа В.Г., Быкова О.Н. Измерение параметров полупроводниковых приборов на пластине. Измерительная техника. 2016;(7):56-61.

Просмотров PDF (Rus): 11

JATS XML

ISSN 0368-1025 (Print)
ISSN 2949-5237 (Online)