Оценка уровня шумов фазовых изображений, получаемых при помощи сдвигового интерференционного микроскопа
Аннотация
Описана методика оценки уровней пространственных и временных шумов фазовых изображений, полученных на сдвиговом интерференционном микроскопе. Приведены экспериментальные результаты при работе микроскопа с когерентным лазерным и низкокогерентным светодиодным излучением.
Об авторе
М. И. Латушко
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Россия
Россия
Список литературы
1. Вишняков Г. Н., Левин Г. Г., Минаев В. Л., Цельмина И. Ю. Интерференционная микроскопия субнанометрового разрешения по глубине. Экспериментальные результаты // Оптика и спектроскопия. 2014. Т. 116. № 1. С. 170-175.
2. Левин Г. Г., Вишняков Г. Н., Минаев В. Л. Автоматизированный интерференционный микроскоп для измерения динамических объектов // Приборы и техника эксперимента. 2014. № 1. С. 79-84.
3. Vishnyakov G., Levin G., Minaev V., Nekrasov N. Advanced method of phase shift measurement from variances of interferogram differences // Appl. Opt. 2015. V. 54. N. 15. P. 4797-4804.
4. Nguyen T. H., Popescu G. Spatial Light Interference Microscopy (SLIM) using twisted-nematic liquid-crystal modulation // Biomed. Opt. Express. 2013. V. 4. N. 9. P. 1571-1583.
5. Girshovitz P., Shaked N. T. Compact and portable low-coherence interferometer with off-axis geometry for quantitative phase microscopy and nanoscopy // Opt. Express. 2013. V. 21. N. 5. P. 5701-5714.
Рецензия
Для цитирования:
Латушко М.И. Оценка уровня шумов фазовых изображений, получаемых при помощи сдвигового интерференционного микроскопа. Измерительная техника. 2015;(11):38-40.
Просмотров:
196
JATS XML
Послать статью по эл. почте 