<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-1317</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>К ЮБИЛЕЮ ВНИИОФИ</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Оценка уровня шумов фазовых изображений, получаемых при помощи сдвигового интерференционного микроскопа</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Латушко</surname><given-names>М. И.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">latushko@vniiofi.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2015</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>11</issue><fpage>38</fpage><lpage>40</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/1317">https://www.izmt.ru/jour/article/view/1317</self-uri><abstract><p>Описана методика оценки уровней пространственных и временных шумов фазовых изображений, полученных на сдвиговом интерференционном микроскопе. Приведены экспериментальные результаты при работе микроскопа с когерентным лазерным и низкокогерентным светодиодным излучением.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>In this paper a method of estimation of spatial and temporal noise levels at phase images acquired by means of shearing interference microscope is described. Experimental results for a microscope working at coherent laser and low-coherent LED radiation are presented.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>метод фазовых шагов</kwd><kwd>сдвиговый интерферометр</kwd><kwd>интерференционный микроскоп</kwd><kwd>уровень пространственных и временных шумов</kwd><kwd>phase stepping method</kwd><kwd>shearing interferometer</kwd><kwd>interference microscope</kwd><kwd>spatial and temporal noise levels</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Вишняков Г. Н., Левин Г. Г., Минаев В. Л., Цельмина И. Ю. Интерференционная микроскопия субнанометрового разрешения по глубине. Экспериментальные результаты // Оптика и спектроскопия. 2014. Т. 116. № 1. С. 170-175.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Вишняков Г. Н., Левин Г. Г., Минаев В. Л., Цельмина И. Ю. Интерференционная микроскопия субнанометрового разрешения по глубине. Экспериментальные результаты // Оптика и спектроскопия. 2014. Т. 116. № 1. С. 170-175.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Левин Г. Г., Вишняков Г. Н., Минаев В. Л. Автоматизированный интерференционный микроскоп для измерения динамических объектов // Приборы и техника эксперимента. 2014. № 1. С. 79-84.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Левин Г. Г., Вишняков Г. Н., Минаев В. Л. Автоматизированный интерференционный микроскоп для измерения динамических объектов // Приборы и техника эксперимента. 2014. № 1. С. 79-84.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Vishnyakov G., Levin G., Minaev V., Nekrasov N. Advanced method of phase shift measurement from variances of interferogram differences // Appl. Opt. 2015. V. 54. N. 15. P. 4797-4804.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Vishnyakov G., Levin G., Minaev V., Nekrasov N. Advanced method of phase shift measurement from variances of interferogram differences // Appl. Opt. 2015. V. 54. N. 15. P. 4797-4804.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Nguyen T. H., Popescu G. Spatial Light Interference Microscopy (SLIM) using twisted-nematic liquid-crystal modulation // Biomed. Opt. Express. 2013. V. 4. N. 9. P. 1571-1583.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Nguyen T. H., Popescu G. Spatial Light Interference Microscopy (SLIM) using twisted-nematic liquid-crystal modulation // Biomed. Opt. Express. 2013. V. 4. N. 9. P. 1571-1583.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Girshovitz P., Shaked N. T. Compact and portable low-coherence interferometer with off-axis geometry for quantitative phase microscopy and nanoscopy // Opt. Express. 2013. V. 21. N. 5. P. 5701-5714.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Girshovitz P., Shaked N. T. Compact and portable low-coherence interferometer with off-axis geometry for quantitative phase microscopy and nanoscopy // Opt. Express. 2013. V. 21. N. 5. P. 5701-5714.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
