

Формирование Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии
Аннотация
Об авторах
Ю. М. ЗолотаревскийРоссия
А. С. Гусев
Россия
В. Л. Лясковский
Россия
Список литературы
1. Федеральная целевая программа «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в РФ на 2008-2011 годы». Постановление Правительства РФ от 02.08.2007 № 498 (ред. от 30.12.2011 с изменениями, вступившими в силу с 21.02.2012).
2. Приказ № 2396 руководителя Росстандарта от 4 ноября 2007 года О реализации постановления Правительства Российской Федерации от 2 августа 2007 года № 498 «О федеральной целевой программе «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2010 годы»».
3. НИИ физических проблем им. Ф. В. Лукина. Головная организация Минпромторга России по направлению наноэлектроника. [Электрон. ресурс]. http://www.niifp.ru (дата обращения 3.08.2015 г.).
4. Московский институт электронной техники. [Электрон. ресурс]. http://www.miee.ru (дата обращения 3.08.2015 г.).
5. Всероссийский научно-исследовательский институт неорганических материалов имени акад. А. А. Бочвара. [Электрон. ресурс]. http://www.bochvar.ru (дата обращения 3.08.2015 г.).
6. Исследовательский центр им. М. В. Келдыша. [Электрон. ресурс]. http://www.kerc.msk.ru (дата обращения 3.08.2015 г.).
7. НИЦ «Курчатовский институт». [Электрон. ресурс]. http://www.nrcki.ru/ (дата обращения 3.08.2015 г.).
8. ГНЦ "ЦНИИ КМ "Прометей" [Электрон. ресурс]. http://www.crism-prometey.ru (дата обращения 3.08.2015 г.).
9. Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов. [Электрон. ресурс]. http://www.ntcstm.troitsk.ru (дата обращения 3.08.2015 г.).
10. Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов. [Электрон. ресурс]. http://www.viam.ru (дата обращения 3.08.2015 г.).
11. Центральный научно-исследовательский институт химии и механики. [Электрон. ресурс]. http://www.cniihm.ru (дата обращения 3.08.2015 г.).
Рецензия
Для цитирования:
Золотаревский Ю.М., Гусев А.С., Лясковский В.Л. Формирование Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2015;(11):22-24.