

Методика настройки и калибровки имитатора солнечного излучения при измерении параметров многопереходных тонкоплёночных фотоэлектрических модулей
Abstract
About the Authors
С. БогомоловаRussian Federation
Ю. Лукашов
Russian Federation
М. Шварц
Russian Federation
References
1. Poortmans J., Arkhipov V. Thin Film Solar Cells: Fabrication, Characterization and Applications. Chichester: John Wiley & Sons, 2006.
2. Jahn U., Schweiger M., Herrmann W. Comparison of different thin-film technologies - performance characteristics obtained from laboratory and field tests/ // Photovoltaic Solar Energy: Proc. 25th European Conf. Valencia (Spain), 2010. P. 3769--3773.
3. Wolden C. A., Kurtin J., Baxter J.B., Repins I., Shaheen S.E., Torvik J.T., Rockett A.A., Fthenakis V.M., Aydil E.S. Photovoltaic manufacturing: Present status, future prospects, and research needs // J. Vac. Sci. Technol. A. 2011. V. 29. N. 3. P. 030801-16.
4. Hegedus S. Review of photovoltaic module energy yield (kWh/kW): comparison of crystalline Si and thin film technologies // Wiley Interdisciplinary Reviews: Energy and Environment. 2013. V. 2. N. 2. P. 218-233.
5. Green M. A., Emery K., Hishikawa Y., Warta W., Dunlop E. D. Solar cell efficiency tables (version 45) // Prog. Photovolt: Res. Appl. 2015. V. 23. P. 1-9.
6. ГОСТ Р 51594-2000. Нетрадиционная энергетика. Солнечная энергетика. Термины и определения.
7. ГОСТ Р МЭК 60904-3-2013. ГСИ. Приборы фотоэлектрические. Ч. 3. Принципы измерения характеристик фотоэлектрических при-боров с учетом стандартной спектральной плотности энергетической освещенности наземного солнечного излучения.
8. IEC 60904-9:2007. Photovoltaic devices. Pt. 9: Solar simulator performance requirements.
9. Богомолова С. А., Лукашов Ю. Е., Шварц М. З. Оценка расширенной неопределенности результата измерения тока короткого замыкания тонкопленочных фотоэлектрических модулей // Измерительная техника. 2013. № 11. С. 7-12.
10. Guidelines for PV power measurement in industry (compiled by the European Commission Joint Research Center). Belgium: Edited by N. Taylor.: Publications Office of the European Union, 2010.
11. Pravettoni M., Komlan A., Galleano R., Müllejans H., Dunlop E. D. An alternative method for spectral response measurements of large-area thin-film photovoltaic modules // Prog. Photovolt: Res. Appl. 2012. V. 20. P. 416-422.
12. Adelhelm R., Berger D. Requirements for a large area solar simulator regarding the measurement of MJ solar cells // Photovoltaic Energy Conversion: Proc. 3rd World Conf. Osaka (Japan), 2003. P. 821-824.
13. McMahon W. E., Emery K.E., Friedman D.J., Ottoson L., Young M.S., Ward J.S., Kramer C.M., Duda A., Kurtz S. Fill factor as a probe of current-matching for GaInP2/GaAs tandem cells in a concentrator system during outdoor operation // Prog. Photovolt: Res. Appl. 2008. V. 16. P. 213-224.
14. Rumyantsev V. D., Andreev V. M., Larionov V. R., Malevskiy D. A., Shvarts M. Z. Indoor characterization of multijunction concentrator cells under flash illumination with variable spectrum // Solar Concentrators for the Generation of Electricity or Hydrogen: Proc. 4th Int. Conf. El Escorial (Spain), 2007. P. 277-280.
15. Колтун М.М. Оптика и метрология солнечных элементов. М.: Наука, 1985.
16. Staebler D. L., Wronski C. R. Reversible conductivity changes in discharge-produced amorphous Si // Appl. Phys. Lett. 1977. V. 31. P. 292-294.
17. IEC 60904-4:2009. Photovoltaic devices: Pt. 4. Procedures for establishing the traceability of the calibration of photovoltaic reference devices.
18. ГОСТ 8.195-2013. ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения, спектральной плотности энергетической освещенности, силы излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин волн от 0,2 до 25,0 мкм.
19. ГОСТ Р МЭК 60904-1-2013. Приборы фотоэлектрические. Ч. 1. Измерение вольт-амперных характеристик.
20. ISO/IEC Guide 98-3: 2008. Uncertainty of measurement: Pt. 3. Guide to the expression of uncertainty in measurement.
Review
For citations:
, , . Izmeritel`naya Tekhnika. 2016;(1):33-37. (In Russ.)