Применение векторного анализатора цепей для измерений параметров СВЧ pin-диодов
Abstract
The method of direct measurements of loss resistance for microwave PIN diodes with application of path vector analyzer is considered. The problems of design of a contact device for measured PIN diodes and calibration are analyzed. The scheme of installation for one-port and two-port measurements is presented.
Keywords
pin-диод,
сопротивление потерь,
векторный анализатор цепей,
параметры матрицы рассеяния,
диаграмма Вольперта–Смита,
контактное устройство,
компланарный волновод,
калибровочная мера,
PIN diode,
loss resistance,
path vector analyzer,
matrix scattering parameters,
Wolter-Smith chart,
contact device ,
coplanar waveguide,
calibration measure
About the Authors
Б. Селезнев
Новгородский государственный университет им. Ярослава Мудрого
Russian Federation
Russian Federation
Г. Гудков
Новгородский государственный университет им. Ярослава Мудрого
Russian Federation
Russian Federation
А. Штро
Новгородский государственный университет им. Ярослава Мудрого
Russian Federation
Russian Federation
А. Петров
Новгородский государственный университет им. Ярослава Мудрого
Russian Federation
Russian Federation
А. Ионов
Новгородский государственный университет им. Ярослава Мудрого
Russian Federation
Russian Federation
References
1. Резников В. А, Губырин Л. В. Высокочастотные и СВЧ pin-диоды // Компоненты и технологии. 2000. № 4. С. 42–43.
2. ГОСТ 19656.10–88. Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные переключательные и ограничительные. Методы измерения сопротивлений потерь.
3. Microsemi Corporation [Электрон. ресурс]. http://www.microse mi.com/document-portal/doc_download/14620-pin-diode-fundamentals (дата обращения 17.04.2013 г.).
4. Рясный Ю. В., Чашков М. С., Борисов А. В. Анализ методов измерений S-параметров транзисторов СВЧ // Измерительная техника, 2012. № 10. С. 61–63; Ryasnyi Yu. V., Chashkov M. S., Borisov A. V. Analysis of a method of measuring the S-parameters of microwave transistors // Measurement Techniques. 2013. V. 55. N 10. P. 1209–1213.
5. Designing and Calibrating RF Fixtures for Surface-Mount Devices [Электрон. ресурс]. http://cp.literature.agilent.com/litweb/pdf/5989-3247EN.pdf (дата обращения 10.05.2012 г.).
6. Impedance Measurements. Evaluating EMC Components with DC Bias Superimposed [Электрон. ресурс]. http://cp.literature.agilent.com /litweb/pdf/5989-9887EN.pdf (дата обращения 10.05.2012 г.).
7. In-Fixture Measurements Using Vector Network Analyzers. Application Note Agilent AN 1287-9 [Электрон. ресурс]. http://cp.literature. agilent.com/litweb/pdf/5968-5329E.pdf (дата обращения 10.05.2012 г.).
Review
For citations:
, , , , . Izmeritel`naya Tekhnika. 2013;(11):60-64. (In Russ.)
Views:
112
Email this article 