Применение векторного анализатора цепей для измерений параметров СВЧ pin-диодов

Рассмотрен метод прямых измерений сопротивления потерь для СВЧ pin-диодов с применением векторного анализатора цепей. Проанализированы проблемы конструирования контактного устройства для измеряемых pin-диодов и калибровки. Приведена схема установки для одно- и двухпортовых измерений.

pin-диод, сопротивление потерь, векторный анализатор цепей, параметры матрицы рассеяния, диаграмма Вольперта–Смита, контактное устройство, компланарный волновод, калибровочная мера, PIN diode, loss resistance, path vector analyzer, matrix scattering parameters, Wolter-Smith chart, contact device , coplanar waveguide, calibration measure

1. Резников В. А, Губырин Л. В. Высокочастотные и СВЧ pin-диоды // Компоненты и технологии. 2000. № 4. С. 42–43.

2. ГОСТ 19656.10–88. Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные переключательные и ограничительные. Методы измерения сопротивлений потерь.

3. Microsemi Corporation [Электрон. ресурс]. http://www.microse mi.com/document-portal/doc_download/14620-pin-diode-fundamentals (дата обращения 17.04.2013 г.).

4. Рясный Ю. В., Чашков М. С., Борисов А. В. Анализ методов измерений S-параметров транзисторов СВЧ // Измерительная техника, 2012. № 10. С. 61–63; Ryasnyi Yu. V., Chashkov M. S., Borisov A. V. Analysis of a method of measuring the S-parameters of microwave transistors // Measurement Techniques. 2013. V. 55. N 10. P. 1209–1213.

5. Designing and Calibrating RF Fixtures for Surface-Mount Devices [Электрон. ресурс]. http://cp.literature.agilent.com/litweb/pdf/5989-3247EN.pdf (дата обращения 10.05.2012 г.).

6. Impedance Measurements. Evaluating EMC Components with DC Bias Superimposed [Электрон. ресурс]. http://cp.literature.agilent.com /litweb/pdf/5989-9887EN.pdf (дата обращения 10.05.2012 г.).

7. In-Fixture Measurements Using Vector Network Analyzers. Application Note Agilent AN 1287-9 [Электрон. ресурс]. http://cp.literature. agilent.com/litweb/pdf/5968-5329E.pdf (дата обращения 10.05.2012 г.).