Для цитирования:

Родин Р.А., Сахаров К.Ю., Туркин В.А., Михеев О.В. Измерительный комплекс для определения устойчивости радиоэлектронной аппаратуры к помехам импульсного электромагнитного излучения. Измерительная техника. 2018;(9):58-60. https://doi.org/10.32446/0368-1025it-2018-9-58-60