Измерение оптической плотности в узкой полосе длин волн: метод коррекции результатов непрямых измерений

Рассмотрены вопросы соответствия результатов прямых и непрямых измерений оптической плотности в узкой полосе длин волн. Оптическую плотность в узкой полосе длин волн измеряли методом фильтрации светового потока согласно международному стандарту ISO 5-3:2009 “Photography and graphic technology – Density measurements. Part 3: Spectral conditions” (прямое измерение) и спектральным методом (непрямое измерение). С целью обеспечения единства измерений оптической плотности в узкой полосе длин волн и установления прослеживаемости результатов измерений к Государственному первичному эталону единицы оптической плотности ГЭТ 206-2016 исследована степень соответствия результатов, полученных двумя методами. Описаны методики измерений оптической плотности в узкой полосе длин волн для каждого метода. Метод фильтрации светового потока реализован с помощью ГЭТ 206-2016, а именно с использованием комплекса по измерению диффузной оптической плотности в проходящем свете. Для реализации спектральногометода применён спектрофотометр Cary 7000 (Agilent, США). Приведены данные по измерению оптической плотности стеклянных светофильтров двумяметодами. Разработанметод коррекции результатов спектральных измерений и определена поправка к результатам спектральных измерений. Разработанный метод и поправка позволяют установить соответствие результатов спектральных измерений и измерений методом фильтрации светового потока. Также описанный метод коррекции результатов спектральных измерений позволяет устанавливать прослеживаемость результатов измерений оптической плотности спектральнымметодомк результатамизмерений с помощью ГЭТ 206-2016.

1. Долгов В. В., Ованесов Е. И., Щетникович К. А. Фотометрия в лабораторной практике. Российская медицинская академия последипломного образования, Москва, 2004.

2. Неразрушающий контроль. Справочник. Под общ. ред. В. В. Клюева. Т. 6, кн. 2. В. Н. Филинов, А. А. Кеткович, М. В. Филинов. Оптический контроль. Машиностроение, Москва (2006).

3. Андреев В. И., Лясковский В. Л., Втулкин П. П., Марченко С. Н., Шатов А. В. Разработка Государственного первичного эталона единицы оптической плотности ГЭТ 206-2013. Законодательная и прикладная метрология, (6(133)), 38–43 (2014). https://www.elibrary.ru/szfrbn

4. Зябликов Д. Н., Иванов А. В., Колдашов А. В., Марченко С. Н. Государственный первичный эталон единицы оптической плотности ГЭТ 206-2016. Измерительная техника, (8), 3–7 (2021). https://doi.org/10.32446/0368-1025it.2021-8-3-7

5. Тишакова К.Д., Мороз К.А. Выявление зависимости между спектральным коэффициентом направленного пропускания и оптической плотностью светофильтров спектрофотометра. Фундаментальные исследования, методы и алгоритмы прикладной математики в технике, медицине и экономике. Материалы 16-й Международной молодежной научно-практической конференции, Новочеркасск, 26–27 октября 2017, с. 177–181. ООО «Лик», Новочеркасск (2017). https://www.elibrary.ru/zwiwhz

6. Lequime M., Zerrad M., Amra C. Breakthrough spectrophotometric instrument for the ultra-fi ne characterization of the spectral transmittance of thin-fi lm optical fi lters. Optics Express, 26(26), 34236–34249 (2018). https://doi.org/10.1364/OE.26.034236

7. Spitschan M., Lazar R., Cajochen C. Visual and non-visual properties of fi lters manipulating short-wavelength light. Ophthalmic and Physiological Optics, 39(6), 459–468 (2019). https://doi.org/10.1111/opo.12648

8. Lü Sh., Wang R., Ma J., Jiang C., Mu J., Zhao S., Yin X. Design and manufacture of super-multilayer optical fi lters based on PARMS technology. Advanced Optical Technologies, 7(1-2), 49–55 (2018). https://doi.org/10.1515/aot-2017-0075

9. Yadav M., Yadav S., Shankar A., Bala R., Rani M. Thickness-related variation in the structure, morphology and optical characteristics of nickel thin fi lms for neutral density fi ltering. Physica Scripta, 99(4), 045949 (2024). https://doi.org/10.1088/1402-4896/ad30e5